0 引 言 　　智能测量仪器作为信息获取工具，是一种集多个门类、多种学科技术于一体的复杂有机体。随着测试技术、计算机技术和大规模集成电路技术的飞速发展，现代智能测量仪器不但对功能、性能、精度和指标的要求越来越高，而且对系统可靠性、可维修性的要求也越来越高。因此，这就要求测量仪器具有完备的内建测试(build intest，BIT)功能以及自我调节和补偿能力，以使测量仪器系统本身具备测试、诊断和故障定位的能力以及适应各种环境、温度和器部件性能变化的能力。 　　但是，智能测量仪器要具备这些测试、