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  1. 电子测量中的基于时域反射和传输的S参数测量方法

  2. 引言   在频域、时域、阻抗域三种电学基本特性测试测量仪器中,以阻抗域测试测量仪器所用电路结构最复杂、测试操作最费时间、成套价格最高。目前能够供应GHz级阻抗域测试测量仪器的公司亦为数不多,特别是矢量网络分析仪(VNA)只有安捷伦、安立、罗德施瓦茨等几家公司生产。VNA的最高带宽达到65GHz,前端使用变频器可将带宽扩大至120GHz,成套售价在二十万美元以上。   我们知道,任何电子元器件都可用二端或四端网络来表征,所用参数有Z(阻抗)、Y(电导)、H(混合)和S(散射),由于Z、Y、H参
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-12
    • 文件大小:284672
    • 提供者:weixin_38712548
  1. 基于时域反射和传输的S参数测量方法

  2. 引言   在频域、时域、阻抗域三种电学基本特性测试测量仪器中,以阻抗域测试测量仪器所用电路结构复杂、测试操作费时间、成套价格。目前能够供应GHz级阻抗域测试测量仪器的公司亦为数不多,特别是矢量网络分析仪(VNA)只有安捷伦、安立、罗德施瓦茨等几家公司生产。VNA的带宽达到65GHz,前端使用变频器可将带宽扩大至120GHz,成套售价在二十万美元以上。   我们知道,任何电子元器件都可用二端或四端网络来表征,所用参数有Z(阻抗)、Y(电导)、H(混合)和S(散射),由于Z、Y、H参数的测量都涉
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:373760
    • 提供者:weixin_38647822