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  1. 单片机应用技术选编(7)

  2. 内容简介    《单片机应用技术选编》(7) 选编了1998年国内50种科技期刊中有关单片机开发应用的文 章共510篇,其中全文编入的有113篇,摘要编入的397篇。全书共分八章,即单片机综合 应用技术;智能仪表与测试技术;网络、通信与数据传输;可靠性与抗干扰技术;控制系统 与功率接口技术;电源技术;实用设计;文章摘要。    本书具有重要实用价值,书中介绍的新技术、新器件以及单片机应用系统的软、硬件资 料有助于减少产品研制过程中的重复性劳动,提高单片机应用技术水平,是从事单片机应用 开发技
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2010-05-19
    • 文件大小:13631488
    • 提供者:zgraeae
  1. 电子测量中的基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试

  2. 在最原始的测试过程中,对集成电路(Integrated Circuit,IC)的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的。这种测试方法测试效率低,无法实现大规模大批量的测试。随着集成电路的集成度和引脚数的不断增加,工业生产上必须要使用新的适合大规模电路测试的测试方法。在这种情况下,集成电路的自动测试仪开始不断发展。   现在国内的同类型产品中,一部分采用了单片机实现,这部分仪器分析速度慢,难以用于大规模的测试系统之中,并且在管脚的扩展性上受到严重的限制。另一部
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-20
    • 文件大小:167936
    • 提供者:weixin_38742647