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  1. 电子测量中的基于STM32的智能参数测试仪的设计方案

  2. 摘要:本文针对目前市场上存在的一些电磁继电器参数检测仪器的缺点,为了能够精确采集电磁继电器的吸合电压等主要参数,采用ARM技术和上、下位机方法,设计了一款基于ARM Cortex-M3芯片STM32F103ZET6单片机控制的电磁继电器综合参数检测仪的方案。该仪器可完成对动断、动合、转换型直流继电器的线圈电阻、触点接触电阻、最小吸合电压、最大释放电压、吸合时间、释放时间等参数的测试。   0 引言   产品检测是生产厂家和用户都关心的问题。在产品生产过程中,检测是必不可少的一部分,有的还是工
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-20
    • 文件大小:235520
    • 提供者:weixin_38534344