采用脉冲信号的产品方阵不断增长，包括当前能效更高的IC、开关电源和逆变器，乃至LED模块和子组件；相应的，对于这些最终产品而言，其分立的组成部件在脉冲条件下的测量变得极为重要。仅具备DC源输出能力的测试仪器给器件施加的功率所发生的热量将足以改变器件的特性。脉冲激励信号的使用还要求仪器能够实现更快的测量。 　　高速与积分ADC的比较 　　传统上精密的SMU（信号源测量单元）均采用了积分式的模拟/数字变换器（ADC），这可以让信号在一定时间间隔（称为积分时间）内平均。图1描述了一种经过简化的双斜