当前，PCB是越来越复杂，不言而喻，想要获得满意的测试覆盖范围也更困难了。而且每种测试方法都有其固有的局限性。于是，测试工程师们不得不另辟蹊径，将几种技术组合起来以达到他们所要求的测试覆盖范围。这正是IEEE 1149.1边界扫描（俗称JTAG）和微处理器仿真测试所追求的。边界扫描和处理器基仿真测试有各自的应用领域，每种技术都能达到某种程度的测试覆盖范围。然而将两种技术无缝地组合在一起，就有可能达到更高的总测试覆盖范围，是任何一种单独技术无法比拟的。若将传统的JTAG结构性测试和处理器基功能仿真