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  1. 单片机应用技术选编(7)

  2. 内容简介    《单片机应用技术选编》(7) 选编了1998年国内50种科技期刊中有关单片机开发应用的文 章共510篇,其中全文编入的有113篇,摘要编入的397篇。全书共分八章,即单片机综合 应用技术;智能仪表与测试技术;网络、通信与数据传输;可靠性与抗干扰技术;控制系统 与功率接口技术;电源技术;实用设计;文章摘要。    本书具有重要实用价值,书中介绍的新技术、新器件以及单片机应用系统的软、硬件资 料有助于减少产品研制过程中的重复性劳动,提高单片机应用技术水平,是从事单片机应用 开发技
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2010-05-19
    • 文件大小:13631488
    • 提供者:zgraeae
  1. 电子测量中的IC静电放电的测试方法

  2. 1 前言     静电放电(ESD,electrostatic discharge)是电子工业最花代价的损坏原因之一,它会影响到生产合格率、制造成本、产品质量与可靠性以及公司的可获利润。随着IC产品的制造工艺不断微小化,ESD引起的产品失效问题越来越突出。为了能够了解我们所制造的IC产品的抵抗静电打击的能力,提升产品的质量,减少因ESD而引起的损伤,世界各地的IC工程师们研制出了许多静电放电模拟器,用来模拟现实生活中的静电放电现象,用模拟器对IC进行静电测试,借以找出IC的静电放电故障临界电压
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-16
    • 文件大小:123904
    • 提供者:weixin_38711778