摘要：本文阐述了一种在Verigy 93000 上进行直流参数测试的测试方法，并与传统方法进行了比较分析，结果表明该方法在测试中能完全并行使用硬件资源，使测试时间有效降低。 　　1 引言 　　在当前SoC 快速发展及半导体行业激烈竞争的阶段，提高测试效率、降低测试成本，是从业者需要思考和解决的课题。 　　Verigy 93000 是单一平台的可升级测试系统，它是满足SoC 技术全面集成需要的芯片测试系统解决方案。 　　本论文阐述一种测试方法使得Verigy 93000 进行直流参数测试时