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搜索资源 - 电子-正电子an灭中的软滴事件形状,其精度接近于上一个
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电子-正电子an灭中的软滴事件形状,其精度接近于上一个
在使用CoLoRFulNNLO减法获得的扰动理论中,我们给出了电子-正电子an灭中强子最终态的软滴事件形状的预测,其精确度接近于下一个-领先。 我们研究了软降对三个事件形状变量(软降推力,半球射流和窄射流不变质量)分布扰动扩张收敛的影响。 我们发现修饰通常可以改善这些事件形状的微扰收敛。 这种更好的摄动稳定性,以及对非摄动强子化校正的灵敏度降低,使得软坠事件形状有望成为可观察到的精确确定轻子对撞机强耦合的观测值。
所属分类:
其它
发布日期:2020-03-25
文件大小:430080
提供者:
weixin_38610717