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  1. T8 LED灯管耐压测试死灯珠机理分析和对策探讨.doc

  2. LED的损坏有两个原因。一是电压超出，二是电流超出。耐压测试的漏电流都设在10mA左右，一般不会超出LED允许的电流值。导致LED损坏的最大可能是电压超出。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2014-07-09
    • 文件大小：72704
    • 提供者：xienenglun

  1. LED驱动电路功率因数改善探讨及NCP1014解决方案.pdf

  2. LED驱动电路功率因数改善探讨及NCP1014解决方案pdf,本参考设计将分析现有照明LED驱动电路设计功率因数低的原因，探讨改善功率因数的技术及解决方案，介绍相关设计过程、元器件选择依据、测试数据分享，显示这参考设计如何轻松符合“能源之星”固态照明标准的功率因数要求，非常适合低功率LED照明应用增加了元件数量、降低了效率及增加了复杂性,最适用的功率电平远 高于本应用的功率电平。 解决方案 高功率因数通常需要正弦线路电流,且要求线路电流及电流之间的相 位差极小。修改设计的第一步就是在开关段前获得

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-14
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38744207

  1. 电流\漏电流测试探讨

  2. GB9706漏电流测试探讨，讲述了漏电流测试的方法，可以参考

  3. 所属分类：医疗

    • 发布日期：2012-01-19
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：zoumm19

  1. RFID技术中的选择正确的仪器和恰当的设置加速RF器件测试的方法

  2. 选择正确的仪器和恰当的设置加速RF器件测试的方法 http:www.guangdongdz.com  2006-6-23   对所有电子元件的生产而言测试速度都是非常重要的，在RF测试能够进行之前，必须测试这些器件的直流工作状态。对于二极管来说，这包括正向压降、反响击穿电压和结漏电流，而对于三极管，还包括不同的结击穿电压、结漏电流、集电极或漏极特性等。本文探讨了通过选择正确的测试仪器以及适当地设定来加速这些测试的方法。 对所有的电子元件的制造商而言，测试速度都是很重要的，而对于

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：91136
    • 提供者：weixin_38706100