摘要：DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制，有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难。文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法，在芯片内部设计时只需要增加规模较小的测试电路，就可以在芯片外引脚上测量芯片内部众多的参数。 　　关键词：电源管理；DC-DC；可测性设计；内建测试电路 　　引言 　　在便携式电子和消费电子产品中，对基于电池供电的电源管理的指标要求越来越高，其中高效率和低成本是最主要的两项指标。开关型集成DC-DC转换器由于具有很高的效率使其在很多场合成为首选的电源