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  1. 电路可靠性设计与元器件选型.doc

  2. 电路可靠性设计与元器件选型.doc 1、电子可靠性设计原则 2、电路可靠性设计规范 3、可靠性测试 4、元器件选型 5、元器件失效机理与分析方法 6、电路可靠性设计微观管理方法
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2010-04-30
    • 文件大小:37888
    • 提供者:abcade
  1. 单片机复位电路可靠性设计.pdf

  2. 单片机复位电路可靠性设计,单片机复位电路可靠性设计
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2011-04-11
    • 文件大小:87040
    • 提供者:guozhengou
  1. 单片机复位电路可靠性设计

  2. 单片机复位电路可靠性设计
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2012-11-23
    • 文件大小:129024
    • 提供者:sh541210
  1. 单片机复位电路可靠性设计

  2. 详细介绍了如何设计实用可靠的单片机复位电路,尽量排除系统干扰,让单片机正常工作
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2009-04-08
    • 文件大小:88064
    • 提供者:rackey001
  1. 电路可靠性设计讲义.pdf

  2. 电路可靠性设计讲义
  3. 所属分类:讲义

    • 发布日期:2020-03-20
    • 文件大小:24117248
    • 提供者:qq_35680089
  1. 基于Multisim 10的电子电路可靠性研究.doc

  2. 基于Multisim 10的电子电路可靠性研究.doc
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2012-10-17
    • 文件大小:162816
    • 提供者:zzbsfere
  1. 电路可靠性设计与测试.pdf

  2. 电路可靠性设计与测试.pdf电路可靠性设计与测试.pdf
  3. 所属分类:硬件开发

  1. 提高总线电路可靠性、安全性 CAN节点设计需注意这些

  2. CAN总线通讯已经从汽车电子行业逐渐向各行各业铺开使用了,例如轨道交通、矿井监控等。在设计CAN总线接口电路时需要注意哪些问题呢?
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-17
    • 文件大小:65536
    • 提供者:weixin_38751016
  1. 盘点电路可靠性10大误区

  2. 本文主要讲了一下关于电路可靠性10大误区,希望对您的学习有所帮助。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-18
    • 文件大小:89088
    • 提供者:weixin_38576045
  1. 电路可靠性设计的十大误区

  2. 电路设计不仅有很多技巧,同样也存在很多误区。本文将介绍电路稳定性设计当中的十个误区。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-18
    • 文件大小:92160
    • 提供者:weixin_38628552
  1. MSP43O单片机复位电路可靠性设计

  2. 本文对MSP430全系列单片机的复位系统和复位机制进行了详细深入的分析,并针对性地提出了具体的外围复位电路设计方案和有关电子元器件的详细介绍,以供同行参考和交流。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-12
    • 文件大小:143360
    • 提供者:weixin_38502510
  1. 汽车行业中的电路可靠性

  2. 我们将着眼于汽车行业,研究该行业必须要战胜的一些电路可靠性挑战以达到行业质量标准及用户的期望,并讨论该行业在实施验证策略以找出潜在电路故障根源时面临的一些任务。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-29
    • 文件大小:67584
    • 提供者:weixin_38687343
  1. 定数截尾有缺失场合反延时电路可靠性分析

  2. 在定数截尾数据有缺失的情形下,对单个电子元器件寿命服从单参数指数分布的反延时电路系统进行了可靠性分析。应用Bayes方法并结合矩估计法,得到了单个电子元器件的失效率、系统可靠度及系统平均寿命3个可靠性指标的Bayes估计。数值模拟算例表明,所得可靠性指标的Bayes估计的精度高于可靠性指标的极大似然估计(MLE),Bayes估计和极大似然估计的估计效果均随着数据缺失个数的增加而变差,并且Bayes估计受数据缺失个数的影响小于极大似然估计。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-16
    • 文件大小:344064
    • 提供者:weixin_38642897
  1. 接口/总线/驱动中的提高总线电路可靠性、安全性 CAN节点设计需注意这些

  2. CAN总线通讯已经从汽车电子行业逐渐向各行各业铺开使用了,例如轨道交通、矿井监控等。在设计CAN总线接口电路时需要注意哪些问题呢?   对于提高CAN总线节点的可靠性而言,离不开隔离、总线阻抗匹配、总线保护等,在设计CAN节点时要注意这些点以提高总线电路可靠性和安全性。   一、隔离   信号隔离   隔离收发器可将总线和控制电路进行电气隔离,将高压阻挡在控制系统之外,可以有效地保证操作人员的人身及系统安全。不仅如此,隔离可以抑制由接地电势差、接地
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-15
    • 文件大小:122880
    • 提供者:weixin_38617846
  1. 基于数字信号处理器的IGBT驱动电路可靠性分析与设计

  2. 随着半导体技术与大规模集成电路技术的发展,数字信号处理器在交流调速及运动控制领域应用越来越广。数字信号处理器与功率器件接口电路设计的合理完善直接关系到系统长期工作的可靠性。同时,低压供电数字信号处理器也对驱动接口电路设计提出了要求。通过分析IGBT对驱动可靠性的要求及应用于变频器的几种数字信号处理器的PWM口驱动能力,设计了一种可靠的驱动电路方案。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-23
    • 文件大小:105472
    • 提供者:weixin_38500572
  1. 模拟技术中的基于USB3.0电路可靠性的PTC/ESD方案

  2. USB 3.0传输速率高达5Gbit/s,且电源汇流排也有高达900毫安培的最大输出电流,因此电路电气瞬变和过流故障的预防极为重要,设计人员必须慎选适当的热敏电阻(PTC)和静电放电(ESD)方案,才能确保讯号完整性,并降低系统故障风险。   通用序列汇流排(USB)规范自1996年发布以来,截至2012年为止已累积超过三十五亿个电脑周边设备的USB连接装置出货量。2010年,当第一批支援USB 3.0规格的装置上市,销售量就达到约一百万个,2012年更一举增长至五百万个左右,足见其市场成长相
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-20
    • 文件大小:307200
    • 提供者:weixin_38665449
  1. 汽车电子中的汽车行业中的电路可靠性

  2. 过去几个月中,我们不断地(向对此感兴趣的人)强调:电路可靠性并不是一类“新节点”问题,而存在于众多不同行业,只是严重程度和复杂程度不同而已。这一次,我们将着眼于汽车行业,研究该行业必须要战胜的一些电路可靠性挑战以达到行业质量标准及用户的期望,并讨论该行业在实施验证策略以找出潜在电路故障根源时面临的一些任务。   普通消费者如何看待汽车可靠性?你们知道答案,因为你们自己就是消费者。消费者其实并不在意产品可靠性是如何实现的,只要他们的汽车在第一次以及以后每次使用时都能一切正常。即使对于加热式汽车座
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-20
    • 文件大小:73728
    • 提供者:weixin_38506103
  1. 基于数字信号处理器的IGBT驱动电路可靠性分析与设计

  2. 摘要:随着半导体技术与大规模集成电路技术的发展,数字信号处理器在交流调速及运动控制领域应用越来越广。数字信号处理器与功率器件接口电路设计的合理完善直接关系到系统长期工作的可靠性。同时,低压供电数字信号处理器也对驱动接口电路设计提出了要求。通过分析IGBT对驱动可靠性的要求及应用于变频器的几种数字信号处理器的PWM口驱动能力,设计了一种可靠的驱动电路方案。     关键词:IGBT;数字信号处理器;PWM口;驱动;可靠性 引言 在高可靠性等级的设备中,必须保证半导体器件的失效率标称值在10
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-13
    • 文件大小:168960
    • 提供者:weixin_38727087
  1. EDA/PLD中的针对FPGA内缺陷成团的电路可靠性设计研究

  2. 摘要:文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响,应用集成电路成品率预计模型,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响,据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略,建立了相应的可靠性分析模型,给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则。       关键词:集成电路;可靠性;冗余技术;小型卫星         引    言       微小卫星促进了专用集成电路(ASIC—Application Spceific Integrated Cir
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-07
    • 文件大小:355328
    • 提供者:weixin_38515270
  1. 针对FPGA内缺陷成团的电路可靠性设计研究

  2. 摘要:文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响,应用集成电路成品率预计模型,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响,据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略,建立了相应的可靠性分析模型,给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则。       关键词:集成电路;可靠性;冗余技术;小型卫星         引    言       微小卫星促进了专用集成电路(ASIC—Application Spceific Integrated Cir
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:327680
    • 提供者:weixin_38637805
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