针对石英晶体参数测试系统，介绍了利用STM32F103ZET6控制AD9852作为信号源的方法。这种方法结合了传统PC机及普通单片机测试系统的优点，避开了前两者的缺点，可以快速地测试石英晶体电参数。

在此介绍了一种以DDS芯片AD9912作为信号源的高频石英晶体测试系统。AD9912是一款直接数字频率合成芯片。一方面，AD9912内部时钟速度可高迭1GSPS，并集成了14位数／模转换器，可以直接输出400MHz信号，另一方面，AD9912的频率控制字为48位，可以小于4μHz的分辨率输出信号。由于采用了DDS芯片AD9912作为信号源，所设计的石英晶体测试系统能够在20kHz～400MHz范围内测试石英晶体的串联谐振频率。与国内目前普遍使用的基于振荡器和

0 引 言 　　高稳定度石英晶体谐振器(简称高稳晶振)是广泛应用于通讯、电子对抗、数传电台、计算机等电子信息产品的重要器件。高稳晶振的指标直接影响产品的可靠性，因此如何检测其性能是非常重要的。 　　代表性测量仪器是频稳测试系统(误差倍增器+多路开关)。其原理是将被测频率源的频率起伏△f进行倍频，然后再用频率计数器进行测频来计算准确度、老化率、日波动等指标。在频稳测试系统的设计中，信号源是一个重要的组成部分。其作用为产生高性能的输出频率(1～100 MHz)可设定的钟信号，与被测晶振的信号进行