量子噪声引起光强随机波动是影响X射线相衬图像质量的一个重要因素. 提出了一种针对硬X 射线微分相衬成像噪声特性的分析方法, 通过数值模拟获得了量子噪声对成像结果的作用规律. 模拟结果表明, 折射像和散射像的噪声均方差与叠栅条纹对比度成反比关系, 叠栅条纹对比度越大, 统计所得的均方差值越小.在保证X射线探测效率的前提下, 提高叠栅条纹对比度将有利于获得高质量的相衬图像, 并为有效减少X射线曝光剂量提供条件.