介绍了交变法拉第效应的磁光调制测量原理和方法,分析了亚铁磁性材料法拉第Fraday效应和磁光调制深度与交变磁场频率间的关系,证明了交变法拉第旋转幅值θ0的实部θ＇0小于静磁场下的θ＇ｓ,而虚部θ″0大于θ″ｓ,理论和实验结果相吻合。由此得出结论,采用具有磁圆二向色性的磁光材料做成的调制器不可能达到彻底的开关状态。

采用磁光旋转测量装置与1/4波片组合而成的实验装置测量了(BiTm)3(FeGa)5O(12)单晶薄膜样品的磁圆二向色性(椭圆率tanhθ″),以及θ″与磁场强度H、样品厚度2h的关系。测量密度达0.01°。实验证明了磁光旋转的虚部θ″与实部θ′一样,是与磁化强度M相联系的,且随样品厚度线性增加。