磁-光显微成像检测由于受到光强的变化、磁-光薄膜磁畴的变化等外界因素影响, 检测系统获取的磁-光图像的分辨率不高。文章从涡流激励装置的设计、磁-光薄膜的选择及制备 和图像处理的设计出发,分析了影响磁-光图像分辨率的因素,提出了相应的改善办法,并进行了大 量的试验验证,实验结果验证了该设计方法的可靠性。

单个铯原子被困在磁光阱（MOT）的远共振光学偶极阱（FORT）中，并使用电荷耦合器件（CCD）相机直接成像。 通过基于光子计数的HBT系统使用荧光，可以观察到二元单原子步骤和光子反聚束。 在FORT中平均原子停留时间约为9 s。 为了减少检测过程中的背景噪声，我们使用了微弱的激光探针，该探针被调谐到D1线，以从垂直于大Kong径准直系统的方向照亮单个原子。 直接从单个原子的荧光获得二阶相干度g（（2））（tau）= 0.12 +/- 0.02，而无需扣除背景。 背景光已被抑制到每50毫秒10个计

表面等离体子波(SPW)可与入射光横磁波极化能量耦合并被共振激发,这种现象被称为表面等离体子共振现象(SPR)。主要利用扫描近场光学显微镜(SNOM)技术和表面等离体子共振现象技术相结合,来研究金膜表面等离体子共振。设计并建立了结构独特的新型Kretschmann型表面等离体子共振现象耦合装置,同时又设计了具有厚度梯度的表面等离体子的制备方法。在此基础上,测量了改变入射角条件下的表面等离体子共振曲线,测得该装置的等离体子共振角灵敏度为1°。并且对金膜表面进行表面等离体子共振条件下的扫描近场光学显