引言 　　电子产品不断提高的复杂性无疑为测试工程师带来巨大的挑战。许多被测设备（DUT）需要更加复杂的测试方法，而传统测试仪器往往无法满足这些复杂的测试需求。在这种情况下，可以基于模块化仪器架构，通过软件自定义的方式开发满足复杂功能需求的测试系统；模块化仪器平台PXI的快速发展就体现了这种需求。然而对于某些特殊应用，基于软件自定义的仪器有时也无法解决所有挑战，因而需要将自定义的范围从软件进一步扩展到模块化硬件以满足高吞吐量、高确定性或更多的自定义需求。 　　而对于绝大多数测试与验证工程师来说