张声勇，王太宏（中国科学院物理所，北京 100080）１引言随着人们对纳米器件研究的深入，纳米器件中的电噪声越来越受到重视。噪声性能也是纳米电子器件性能的一个重要的表征，特别是在纳米电子器件广泛应用超灵敏探测和传感方面，器件中的噪声更是直接决定了探测器的最高分辨率。电噪声伴随着电子器件的出现而出现，它影响器件性能，干扰器件工作，让有用的信号失真。然而噪声并不只是给人们带来麻烦，随着科学技术的进一步发展，人们开始利用噪声来进行测量，因为噪声实质上反映着介观系统内部的输运机制。利用散粒噪声，人们成功
