在编码孔径成像光谱仪中, 由于数字微镜器件(DMD)工作在倾斜光路中, 导致编码元在探测器上产生非对称形变, 解码时无法确定所获编码图像各像素对应的编码方式。为解决这一问题, 提出“非对称形变的规则条纹校正”方法, 通过规则条纹在探测器上产生变化, 直观地观察编码元形变, 根据已知条纹规则, 即可定量分析图像的形变量并进行校正。该方法可以保证在系统全视场清晰成像的前提下实现对编码图像的校正。首先介绍了所设计光谱仪的成像原理以及编码元的形变原因, 其次在实验过程中调节探测器以获得全清晰视场, 最后