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  1. 缺陷CFT中大横向自旋的普遍性

  2. 我们研究了一般保形场理论中存在缺陷的本地运营商的频谱,以及它们与本地批量运营商的耦合。 我们确定了在大的s谱中存在普遍累积点,s是在横向于缺陷的空间中旋转下的算符的电荷。 我们的工具包括一个公式,该公式将体积转换为有缺陷的OPE,类似于四点函数[1]的Caron-Huot公式。 该公式在s中的解析性意味着缺陷算子的缩放尺度在Regge轨迹Δ^ s $$ \ widehat {\ Delta}(s)$$中对齐。 这些结果需要两个局部算子的相关器,并且缺陷必须限制在某个区域内,这是我们通常无法证明的
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-04-24
    • 文件大小:971776
    • 提供者:weixin_38711529