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搜索资源列表

  1. 集5大功能于一身的U盘工具：扩容检测、坏块扫描、速度测试、老化测试、坏块屏蔽比 这款软件好

  2. 集5大功能于一身的U盘工具：扩容检测、坏块扫描、速度测试、老化测试、坏块屏蔽比 这款软件好

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2011-01-17
    • 文件大小：592896
    • 提供者：hljsz198627

  1. android测试

  2. 供android测试使用 老化测试

  3. 所属分类：Android

    • 发布日期：2012-10-25
    • 文件大小：364544
    • 提供者：nation_chen

  1. LED高低温试验箱及老化测试标准

  2. LED高低温试验箱及老化测试标准,LED应用生产测试参考。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2015-05-15
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：asderw

  1. 老化测试DEMO APK

  2. Android 简易老化测试Demo APK，主要是测试屏幕亮度，开关机，喇叭，震动，摄像头等等

  3. 所属分类：Linux

    • 发布日期：2018-03-06
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：ltianyou880

  1. 煤矿井下传感器老化测试方法探讨

  2. 煤矿井下传感器种类繁多,对保证煤炭安全顺利开采意义重大。但由于井下环境恶劣,传感器在井下经长期使用后容易受水汽、温度、粉尘等因素影响,会出现监测精度差、稳定性异常等问题,这是典型的老化现象,会给井下的正常工作带来困扰。本文以潞安集团郭庄煤矿为实例,首先介绍了传感器老化测试装置的建立,然后对传感器老化的测试流程进行了详细分析,通过老化测试可以将有缺陷传感器筛选出来,保证井下传感器正常可靠,为井下开采工作保驾护航。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-04-18
    • 文件大小：158720
    • 提供者：weixin_38527978

  1. 老化测试基本知识.ppt

  2. 针对硬件进行老化测试的一些基本知识，及相关的测试方案方法。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2020-02-20
    • 文件大小：175104
    • 提供者：xiaoju14

  1. ITECH电源和老化测试软件在LED照明产品的老化测试的应用

  2. ITECH电源和老化测试软件在LED照明产品的老化测试的应用

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-08-17
    • 文件大小：340992
    • 提供者：luodegoodjob

  1. 基于CAN总线的老化测试系统的设计

  2. 本文介绍了基于CAN总线的老化测试系统的设计

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-05
    • 文件大小：95232
    • 提供者：weixin_38692707

  1. 基于LabVIEW的三极管老化测试系统设计

  2. 针对电子元器件的这种情况，我们开发了一种老化测试系统，可以主要针对功率器件(功率三极管、VDMOS，IGBT等)，通过有规律给元器件通电和断电，循环施加电应力和热应力，检验其承受循环应力的能力。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-13
    • 文件大小：785408
    • 提供者：weixin_38703906

  1. 集成电路中的集成电路老化测试插座的结构形式

  2. 摘要：集成电路（IC）老化测试插座（以下简称老化测试插座）主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合，其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。 　　集成电路制造厂对其生产的每种集成电路封装器件都要进行老化测试，所以集成电路需求量的迅速增长，为老化测试插座产业也提出了更高的要求，必须具备与产量和品种相适应的老化测试插座。老化测试插座是对集成电路进行可靠性验证和各类环境适应性试验的必备的试验装置。 　　集成电路封装的结构型式 　　集成电路芯片的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：458752
    • 提供者：weixin_38639471

  1. 电子测量中的BGA芯片级封装老化测试插座的设计研究

  2. 摘要：由球栅阵列转向细节距BGA的行动正在受到降低封装尺寸要求的推动。此外，与增加功能有关的I/O数量的增加对降低阵列的间距进一步产生了压力。BGA封装在给定的面积当中将I/O的数量提高至最大化，对越来越小脚迹的需求推动了节距小于1.0mm封装的发展。最近三年芯片级封装的发展是对更小封装的兴趣和需求的证言。为实现本项技术商品化所需支持的"基础设施",经常就是电路板接受任何新型封装的入门项目。该基础设施的重要元件就是老化测试插座。 　　细节距BGA封装含有的节距小于1.0 mm,对印制线路板工业

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：445440
    • 提供者：weixin_38592848

  1. 基于汽车CAN总线的老化测试系统的设计

  2. 汽车上用的电子设备的可靠工作与优良性能关系者驾驶者的生命安全。车用电子设备出厂前要求对设备内部电路板进行长时间老化测试，以检测电路板在高温环境和各种输入信号条件下，是否仍正常工作。只有经过老化测试的电路板才能出厂。由于需要老化测试的电路板数量巨大，要求该系统能同时老化测试许多块被检测电路板，因此设计了本老化测试系统。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：111616
    • 提供者：weixin_38590784

  1. 电源技术中的LED电源老化测试用的缓启动恒流电子负载

  2. 摘要：设计实用于LED电源的，具有缓启动功能的恒流电子负载，利用负载接入端子V+.V-输入电压，经过稳压输出电路稳压后用于控制经典的模拟恒流负载电路，配合上简单的由RC 延时网络构成的上电延时启动电路.能使负载电流从0 mA缓慢上升至额定电流，再配合由双三极管及电阻电容构成的掉电快速放电电路，保证了下次启动时的延时效果.该设计的具有缓启动功能的恒流电子负载，无需外部供电，直接取电于负载接入电压，无需软件延时和其他硬件延时，实现无源软缓启动，成本低，可以串联和并联使用.在LED电源的老化测试中，替

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：141312
    • 提供者：weixin_38535132

  1. 电子测量中的基于LabVIEW的三极管老化测试系统设计

  2. 针对一些功率器件(功率三极管、VDMOS,IGBT等),通过有规律给元器件通电和断电,循环施加电应力和热应力,可以检验其承受循环应力的能力。基于上述原理,借助可视化编程语言LabVIEW和NI系列sb RIO-9612板卡,本文设计了一种三极管老化测试系统,该系统满足国军标GJB1036的试验要求,每个工位的采样时间不大于4μs,总共64工位的采样周期不大于300μs,满足了快速控制的要求,同时还不失精准,电压和电流的采样分辨率达到了12 bit,精度达到1%,从而控制了器件结温误差。目前系统已

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：344064
    • 提供者：weixin_38559866

  1. 基于CAN总线的老化测试系统的设计

  2. 由于需要老化测试的电路板数量巨大，要求该系统能同时老化测试许多块被检测电路板，因此设计了本老化测试系统。整个老化测试由 1个通信模块、 10个测试模块、1个温控模块及上微机软件构成。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-25
    • 文件大小：123904
    • 提供者：weixin_38635092

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的基于CAN总线的老化测试系统的设计

  2. 0 引言 　　汽车上用的电子设备的可靠工作与优良性能关系者驾驶者的生命安全。车用电子设备出厂前要求对设备内部电路板进行长时间老化测试，以检测电路板在高温环境和各种输入信号条件下，是否仍正常工作。只有经过老化测试的电路板才能出厂。由于需要老化测试的电路板数量巨大，要求该系统能同时老化测试许多块被检测电路板，因此设计了本老化测试系统。整个老化测试由 1个通信模块、 10个测试模块、1个温控模块及上微机软件构成。本老化检测系统的系统结构图如图 1所示。 　　图 1 系统结构图在本系统中，每

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-09
    • 文件大小：123904
    • 提供者：weixin_38728555

  1. 通信与网络中的仅用100W功率就能对1kw设备进行老化测试的传输线

  2. 一台13.56MHz  ISM（工业、科学和医疗）频段射频测量设备要求进行50小时1kw老化测试。被测设备需要同时加上等效于1kw的射频电压和射频电流，而手里唯一可用的射频信号源是一台100W射频发生器，体现节省能源的重要性。图1所示电路将能量储存在传输线中，就可利用这100W射频发生器产生1kw功率。该电路由两根电气长度为43°（约6英尺长）、两端有UHF连接器的RG－213型同轴电缆组成。电气长度为4°的被测设备连接在两根传输线T1和T2之间，总长度为90°。一个现成的业余无线电天线调谐器可

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：73728
    • 提供者：weixin_38722607

  1. BGA芯片级封装老化测试插座的设计研究

  2. 摘要：由球栅阵列转向细节距BGA的行动正在受到降低封装尺寸要求的推动。此外，与增加功能有关的I/O数量的增加对降低阵列的间距进一步产生了压力。BGA封装在给定的面积当中将I/O的数量提高至化，对越来越小脚迹的需求推动了节距小于1.0mm封装的发展。近三年芯片级封装的发展是对更小封装的兴趣和需求的证言。为实现本项技术商品化所需支持的"基础设施",经常就是电路板接受任何新型封装的入门项目。该基础设施的重要元件就是老化测试插座。 　　细节距BGA封装含有的节距小于1.0 mm,对印制线路板工业和老化

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：600064
    • 提供者：weixin_38704701

  1. 基于LabVIEW的三极管老化测试系统设计

  2. 针对一些功率器件(功率三极管、VDMOS,IGBT等),通过有规律给元器件通电和断电,循环施加电应力和热应力,可以检验其承受循环应力的能力。基于上述原理,借助可视化编程语言LabVIEW和NI系列sb RIO-9612板卡,本文设计了一种三极管老化测试系统,该系统满足国军标GJB1036的试验要求,每个工位的采样时间不大于4μs,总共64工位的采样周期不大于300μs,满足了快速控制的要求,同时还不失精准,电压和电流的采样分辨率达到了12 bit,精度达到1%,从而控制了器件结温误差。目前系统已

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：787456
    • 提供者：weixin_38663167

  1. 如何进行CAN通信设备的批量老化测试

  2. 老化测试是产品生产中必不可少的环节，对于CAN通信设备如何进行批量高效的老化测试呢?本文将从成本及方案优化两方面简述测试方法。　　1 . 什么是老化测试　　老化测试是将产品置于实际使用环境中评测其使用寿命、稳定性等指标的一种测试方式。比如对塑胶材料制品，常使用光照老化、湿热老化、热风老化。对于电子设备的老化测试，除了以上材料老化测试还经常需要上电测试，以此来考验产品的稳定性。老化测试通常在专用的老化室中进行。　　图1 老化室　　2 . CAN通讯设备老化测试　　对于CAN通信设备的老化测试，主要

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：167936
    • 提供者：weixin_38518376
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