提出了一种利用薄膜式热电偶探针同时测量三种热电特性的新方法。 使用微分法的稳态条件测量塞贝克系数。 使用四探针法测量电阻率，并使用周期性加热法测量热扩散率。 使用康斯坦丁作为参考材料验证了该方法的有效性。 在描述了该方法的有效性之后，对Bi0.3Sb1.7Te3（一种热电材料）的三种热电特性进行了测量。