本文主要针对处理测试数据量较大的一类测试系统，讨论测试数据的存储和管理问题。这类测试系统往往由抗干扰能力较强的单片机和大容量、掉电保护的存储芯片组成，同时配有高精度数字式传感器;造价便宜，性能稳定，适合工作在工业现场，保存和处理大量测试数据，有的甚至能够与上位机组成测控网络完成更为复杂的测试任务。

介绍一种应用于单片机测试系统的链式存储结构，其特点在于采用数据结构的存储方式，并结合有效的存储管理方法对系统的存储空间进行管理和分配，从而在普通的单片机测试系统中实现了对大量测试结果的抽象化数据管理，便于系统进行数据保存、数据删除、数据查询以及与上位机的数据传输等各项操作，增强了系统的可靠性和可继承性。 　　引言 　　在自动化测试领域里，单片机测试系统凭借其成熟的应用体系，简单的系统结构以及优良的性价比得到了越来越广泛的应用。近年来，随着新的测试对象不断出现，以及测试手段的不断发展，测试系统

引言 　　在自动化测试领域里，单片机测试系统凭借其成熟的应用体系，简单的系统结构以及优良的性价比得到了越来越广泛的应用。近年来，随着新的测试对象不断出现，以及测试手段的不断发展，测试系统的功能越来越完善，各种应用场合对测试系统的要求也日益提高。现在的大多数测试系统不仅要完成工业现场的实时测控任务，同时还要进一步实现对测试数据的实时处理和保存。以往在一般的单片机测试系统中，信息的存储量并不大，系统只须用较少的资源就能实现数据的存储。但是随着存储芯片技术的不断发展，适用于单片机系统的存储芯片已经可以