缺陷密度 基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数（个/KLOC）来测量的称为缺陷密度，其测量单位是defects/KLOC。可按照以下步骤来计算一个程序的缺陷密度： 累计开发过程中每个阶段发现的缺陷总数 统计程序中新开发的和修改的代码行数 计算每千行的缺陷数=1000*缺陷总数/代码行数 缺陷数据分析的重要性 统计未修复的缺陷数目（特别是严重性高的缺陷），预计软件是否可以如期发布 分析缺陷的类型分布，发现存在较多缺陷的程序模块，找出原因，进行软件开发过程改进 根据测试人员报告缺陷的数量和准