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  1. 辉光放电无定形硅氢薄膜光隙计算的一个简化分析法

  2. 在计入相干效应和考虑衬底影响的基础上,提出一种非破坏性的简易分析法。利用此法,由非晶硅试样的光谱透射曲线可确定膜层的厚度、折射率及吸收系数。作为例子,我们计算了α-Si:H及α-SiC:H薄膜的光隙。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-25
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_38545117