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搜索资源 - 连续退火对ZnO基金属-半导体-金属紫外光电探测器性能的影响
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连续退火对ZnO基金属-半导体-金属紫外光电探测器性能的影响
在这项研究中,金属-半导体-金属(MSM)肖特基紫外(UV)光电探测器基于c轴首选取向的氧化锌(ZnO)膜,该膜是通过射频(RF)磁控溅射技术在石英基板上制备的。 MSM器件退火后,光电探测器的响应度大大提高。 同时,由实验引起的暗电流的增加伴随着退火温度的升高。 结合暗电流和响应性的观察,初步讨论了其起源。 根据金属-半导体接触理论和扩散效应,提出了连续退火的物理机理。 通过该模型,来自电极的金原子在退火过程中在肖特基势垒中起着重要作用。 这些结果表明,通过使器件退火,可以容易地实现改善光电检
所属分类:
其它
发布日期:2021-02-24
文件大小:1048576
提供者:
weixin_38560107