介绍了光反馈自混合干涉(OFSMI)法测量半导体激光器线宽展宽因数(LEF)的基本原理。针对不同参数条件, 分析了该测量方法的理论误差, 找出了最佳测量条件和最佳测量条纹位置。并根据光反馈自混合干涉信号特点, 设计了一个自动测量算法。该算法可以自动识别提取一个振动周期内的光反馈自混合干涉信号所有特征值, 采用最佳测量条纹位置所对应的特征值, 就可以精确得到线宽展宽因数。仿真数据验证了自动测量算法的正确性。实验结果表明, 自动测量算法在实际数据处理时测量参数的精确度较好, 当自混合信号的峰-峰值为