硬件在环（HIL）测试系统的架构、创建硬件在环（HIL）测试系统应用、选择硬件在环（HIL）测试系统I O接口。

高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环（HIL）测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨论了多种I/O接口选项，能够用于实时处理器创建您的硬件在环测试系统。

高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环（HIL）测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨论了多种I/O接口选项，能够用于实时处理器创建您的硬件在环测试系统。 　　多功能I/O 　　硬件在环测试系统需要多种模拟、数字和计数器/定时器接口与被测电子控制单元（ECU）进行交互。NI多功能数字采集产品将所有功能集成在单个设备中，为硬件在环测试系统I/O接口提供了高价值的选择。高性能模拟数字和数字模拟转换器结合了用于计数器/