1 引言 　　随着半导体工艺的发展，片上系统SOC已成为当今一种主流技术。基于IP复用的SOC设计是通过用户自定义逻辑(UDL)和连线将IP核整合为一个系统，提高了设计效率，加快了设计过程，缩短了产品上市时间。但是随着设计规模的增大，集成密度的提高，IP引脚的增多，IP的植入深度加大必然使得测试验证工作繁重。据统计，在SOC设计中，各种内核的测试验证工作所用的时间占整个设计过程的60％～80％，SOC及IP核的测试验证已成为SOC技术发展的瓶颈。如何在最短的时间内高效迅速地通过IP核验证与测试