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搜索资源列表

  1. 常用数字逻辑芯片资料

  2. 常用数字逻辑芯片资料 74LS系列 SN74LS系列

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-07-29
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：kemi450

  1. 集成电路芯片测试仪(A题)

  2. 集成电路芯片测试仪(A题) 一、 任务 设计一个集成电路芯片测试仪电路，使其能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的型号和好坏。 二、 要求 1 基本部分 用仿真软件对电路进行验证，使电路满足以下功能： 1) 可以对待测试的74系列：00/02/04/08/10/11/20/21/27/30/74/109/160/245等组合逻辑芯片进行逻辑功能测试； 2) 显示测试结果； 3) 不需要输入芯片型号，即能自动完成识别芯片、测试及显示结果等功能。 2 发挥部分 制作一个不依赖 于

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-09-15
    • 文件大小：35840
    • 提供者：kaixianmao

  1. 基于FPGA的74逻辑芯片检测程序

  2. 绝对原创的FPGA检测逻辑芯片程序...由于时间关系只有检测5种芯片的程序...

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-10-24
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：ednjzl860623

  1. Winbreadboard 学习门逻辑时用 里面有常用的集成门逻辑芯片

  2. Winbreadboard 学习门逻辑时用 里面有常用的集成门逻辑芯片

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-03-07
    • 文件大小：139264
    • 提供者：zhuce0001

  1. 数字逻辑常用芯片文档

  2. 数字逻辑常用芯片文档，74LS系列等中小规模集成电路

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-04-10
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：victorjbw

  1. 《单片机典型系统设计实例精讲》的元器件资料

  2. 这是《单片机典型系统设计实例精讲》的元器件资料 存储器芯片资料 单片机芯片资料 电源资料 接口芯片资料 数字逻辑芯片资料

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-06-18
    • 文件大小：12582912
    • 提供者：tsp123456

  1. 74系列及逻辑芯片大全

  2. 芯片大全 每种芯片基本上都有记载 方便您的查找

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-12-22
    • 文件大小：20480
    • 提供者：hong880919hui

  1. TI官方逻辑器件选型指南

  2. 如果不懂如何选择逻辑芯片（功能、电平、封装），就从这个文档查，一下搞定。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2011-06-03
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：ieeei

  1. 逻辑芯片选型指南

  2. 逻辑芯片选型指南，能帮组你很快的选择自己需要的芯片和设计期间

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2011-09-20
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：LUORI98

  1. 74HCLSHCTF系列芯片的区别

  2. 74HCLSHCTF系列芯片的区别 系统的讲解了74系列芯片的功能和应用

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2012-02-20
    • 文件大小：138240
    • 提供者：billsmate

  1. 74系列数字芯片全系列中文文档datasheet

  2. 74HC163、74HC535、74HC393、74HC373、等共140余个数字逻辑芯片中文文档 中文datasheet。 其中，HC与LS引脚及参数相同，所不同的是一个为CMOS电平，一个是TTL电平 文档都一样。 希望对您有用。 单片机开发必备。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2012-09-07
    • 文件大小：14680064
    • 提供者：pronet

  1. 超高性价比74HC138，74系列逻辑芯片,三八译码器,2.0V-6.0V供电电压。-74HC138.rar

  2. 超高性价比74HC138，74系列逻辑芯片,三八译码器,2.0V-6.0V供电电压。-74HC138.rar

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-03
    • 文件大小：202752
    • 提供者：weixin_38744270

  1. 常用数电逻辑芯片封装库.zip

  2. 内有51单片机、74系列等常用数字电子芯片的原理图及封装，极大便于学习数字电子技术的学生去进行PCB设计

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2020-06-11
    • 文件大小：154624
    • 提供者：KingofFreedom

  1. USB Type-C 设备是否需要CC逻辑芯片

  2. USB Type-C凭借其自身强大的功能，在Apple, Intel, Google等厂商的强势推动下，必将迅速引发一场USB接口的革命，并将积极影响我们日常生活的方方面面。本文讨论一个重要的专业问题：USB Type-C设备到底是否需要CC逻辑检测与控制芯片？ 要回答这个问题，我们得先从基本概念谈起。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-11
    • 文件大小：130048
    • 提供者：weixin_38706455

  1. pcb设计逻辑芯片功能测试

  2. pcb设计逻辑芯片功能测试用于保证被测器件能够正确完成其预期的功能。为了达到这个目的，必须先创建测试向量或者真值表，才能进检测代测器件的错误。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-14
    • 文件大小：59392
    • 提供者：weixin_38720173

  1. 基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试

  2. 本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现，使用FPGA作为主控芯片可以更适合于市场，且有利于对性能进行扩展。实验表明，该系统设计合理，能对被测芯片进行准确的功能测试。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-29
    • 文件大小：156672
    • 提供者：weixin_38696582

  1. 电子测量中的基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试

  2. 在最原始的测试过程中，对集成电路（Integrated Circuit,IC）的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的。这种测试方法测试效率低，无法实现大规模大批量的测试。随着集成电路的集成度和引脚数的不断增加，工业生产上必须要使用新的适合大规模电路测试的测试方法。在这种情况下，集成电路的自动测试仪开始不断发展。 　　现在国内的同类型产品中，一部分采用了单片机实现，这部分仪器分析速度慢，难以用于大规模的测试系统之中，并且在管脚的扩展性上受到严重的限制。另一部

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：167936
    • 提供者：weixin_38742647

  1. 消费电子中的USB Type-C 设备是否需要CC逻辑芯片

  2. USB Type-C凭借其自身强大的功能，在Apple， Intel， Google等厂商的强势推动下，必将迅速引发一场USB接口的革命，并将积极影响我们日常生活的方方面面。本文讨论一个重要的专业问题：USB Type-C设备到底是否需要CC逻辑检测与控制芯片？　　要回答这个问题，我们得先从基本概念谈起。　　DFP（Downstream Facing Port）：　　下行端口，可以理解为Host，DFP提供VBUS，也可以提供数据。典型的DFP设备是电源适配器，因为它永远都只是提供电源。　　UF

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：132096
    • 提供者：weixin_38503448

  1. TTL计算机：使用74xx逻辑芯片从头开始构建计算机-源码

  2. 74xx电脑 我尝试使用74xxx逻辑芯片从头开始构建计算机。 项目搁置了！ 我已经放弃了这个项目，但是只是使用另一种方法来重新启动它。 确保检查，这是我从头开始尝试使用计算机的第二次！ 截至2019年9月4日的状态： 已作为高级原理图制定出来。 不时处理指令集，微代码，模块文档和一般说明（请参阅：）。 现在唯一缺少的是每个模块上的一些文档。 整个计算机均已构建在以验证我牢记所有事情的方式是否可以正常工作。 我已经为控制器的ROM映像构建了一个。 这将获取一个源文件，该文件定义了所有微

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-04
    • 文件大小：27262976
    • 提供者：weixin_42126865

  1. 基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试

  2. 在原始的测试过程中，对集成电路（Integrated Circuit,IC）的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的。这种测试方法测试效率低，无法实现大规模大批量的测试。随着集成电路的集成度和引脚数的不断增加，工业生产上必须要使用新的适合大规模电路测试的测试方法。在这种情况下，集成电路的自动测试仪开始不断发展。 　　现在国内的同类型产品中，一部分采用了单片机实现，这部分仪器分析速度慢，难以用于大规模的测试系统之中，并且在管脚的扩展性上受到严重的限制。另一部分

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：156672
    • 提供者：weixin_38612909
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