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  1. EDA/PLD中的针对FPGA内缺陷成团的电路可靠性设计研究

  2. 摘要:文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响,应用集成电路成品率预计模型,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响,据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略,建立了相应的可靠性分析模型,给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则。       关键词:集成电路;可靠性;冗余技术;小型卫星         引    言       微小卫星促进了专用集成电路(ASIC—Application Spceific Integrated Cir
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-12-07
    • 文件大小:355328
    • 提供者:weixin_38515270
  1. 针对FPGA内缺陷成团的电路可靠性设计研究

  2. 摘要:文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响,应用集成电路成品率预计模型,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响,据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略,建立了相应的可靠性分析模型,给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则。       关键词:集成电路;可靠性;冗余技术;小型卫星         引    言       微小卫星促进了专用集成电路(ASIC—Application Spceific Integrated Cir
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:327680
    • 提供者:weixin_38637805