引言在综合验光仪的验光过程中，用户会根据不同的测试需求和习惯设置一些系统配置参数，这些参数需要保存起来；更为重要的是，患者测得的双眼屈光数据也需要长时间地保存起来，以备下次更换眼镜时作为配镜参考

引言 　　在综合验光仪的验光过程中，用户会根据不同的测试需求和习惯设置一些系统配置参数，这些参数需要保存起来；更为重要的是，患者测得的双眼屈光数据也需要长时间地保存起来，以备下次更换眼镜时作为配镜参考和数据比较。这样，就面临一个系统掉电后数据保存的问题。 　　传统半导体存储器分为易失性存储器和非易失性存储器两类：非易失性存储器包括EPROM、EEPROM和Flash等，在断电后仍能保存数据，但由于采用 ROM技术，所以存在写入时间长、写入次数有限、写入时功耗较高等缺点；而易失性存储器虽然性能

为了实现环境试验的存储测试系统，采用了FRAM存储器M28W640结合SOC片上系统C8051F340的设计，通过分析其性能和接口电路，编写了相应的读写程序。由于这种并行非易失性存储测试技术方式具有高速读写、超低功耗、几乎无限次擦写，读写程序编写简便的优点，非常适合在此类存储测试系统中使用。