后硅阶段的错误检测和定位是现代IC行业中的关键问题。 尤其是，由于不确定的变化和电气错误而导致的定时错误，目前仍缺乏有效的调试方法。 为了应对这一挑战，我们提出了一种在线定时错误检测方法，该方法使用片上存储器通过在较低频率条件下运行测试程序来保持黄金执行轨迹，然后比较所存储的黄金轨迹。在指定测试条件下获取的运行时跟踪。 在跟踪比较过程中出现一些差异之后，就会确定时序错误。 这种自检查方法可以检测棘手的定时错误，而无需进行费时的软件仿真和跟踪转储，从而将检测过程加速了几个数量级。 此外，跟踪内部键
