比较相同偏置条件下镀减反射膜前后的半导体激光器端面自发辐射谱，测得了端面反射率随波长变化的关系曲线。该方法突破了Kaminow法单一波长测量的限制，同时也避免了Kaminow法在两端面镀膜后所遇到的调制度过小的问题。实验中确定出了低于8×10(-5)的第二镀膜端面反射率。