现场可编程门阵列（FPGA）技术因其提供的设计灵活性,已为系统设计人员广泛采用。非晶硅反熔丝FPGA技术尤其有用,它可以提供一种高电路密度与低功耗,以及非易失性编程和高可靠性的组合。为了充分发挥其可靠性,FPGA厂商需要考虑反熔丝的崩溃（wear-out）机制,并通过一种设计、测试、软件工具和编程控制的组合来避免崩溃。