电荷耦合器件(CCD)作为一个将光学图像转换到电子学图像的传感器，其成像质量与辐射响应参数的性能直接相关。针对面阵CCD 越来越广泛的应用，提出利用“辐射响应矩阵”的概念和评价方法，表述面阵CCD 每个像元的辐射性能参数。分析该矩阵，明确矩阵各元素的物理意义，并将面阵CCD 每个像元的绝对辐射响应度、响应非线性度、暗噪声、信噪比以及非均匀性的数学关系与其物理含义一一对应。对面阵CCD DALSA-FTF6080M 进行辐射性能检测，并利用辐射响应矩阵计算出各像元的响应系数。以测试结果为例，讨论和