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  1. 高加速寿命试验（HALT）

  2. 高加速寿命试验的资料与文章，可帮助硬件开发人员提高产品可靠性与寿命，大大缩短开发周期。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-03-11
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：fsllll