ｐｃｂ电路板的测试技术现在已经要求越来越高，针对ｊｔａｇ口的边界扫描技术是一种新技术

引言 　　ＮＡＮＤＦｌａｓｈ具有快速访问、低功耗、抗震性、尺寸小、重量轻等特性，并且稳定性良好，即使在系统电源关闭的情况下仍可保存数据。随着技术的发展，其价格降低且容量增大，这些使得ＮＡＮＤＦｌａｓｈ逐渐成为嵌入式系统的一个独立部件，系统存储的工业标准。 　　对Ｆｌａｓｈ存储器的测试与编写，目前流行的工业方法是采用遵守ＩＥＥＥ－１１４９．１标准，又称ＪＴＡＧ（ｊｏｉｎｔ　ｔｅｓｔ　ａｃｔｉｏｎ　ｇｒｏｕｐ）规范的边界扫描技术，运用专门的商业测试板和配套软件来完成。不论是板级还是生产线级，都有