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搜索资源列表

  1. megal16数据手册

  2. 产品特性 • 高性能、低功耗的 8 位 AVR® 微处理器 • 先进的RISC结构 – 131 条指令 – 大多数指令执行时间为单个时钟周期 –32 个8 位通用工作寄存器 – 全静态工作 – 工作于16 MHz 时性能高达16 MIPS – 只需两个时钟周期的硬件乘法器 • 非易失性程序和数据存储器 – 16K 字节的系统内可编程 Flash 擦写寿命: 10,000 次 – 具有独立锁定位的可选Boot 代码区 通过片上Boot 程序实现系统内编程 真正的同时读写操作 – 512 字节的E

  3. 所属分类：Flash

    • 发布日期：2009-05-06
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：wjflove60

  1. Mega16单片机中文资料

  2. Mega16单片机中文资料 产品特性 • 高性能、低功耗的 8 位 AVR® 微处理器 • 先进的RISC结构 – 131 条指令 – 大多数指令执行时间为单个时钟周期 –32 个8 位通用工作寄存器 – 全静态工作 – 工作于16 MHz 时性能高达16 MIPS – 只需两个时钟周期的硬件乘法器 • 非易失性程序和数据存储器 – 16K 字节的系统内可编程 Flash 擦写寿命: 10,000 次 – 具有独立锁定位的可选Boot 代码区 通过片上Boot 程序实现系统内编程 真正的同时读

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2009-08-26
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：A281229961

  1. ATmega16说明书

  2. 高性能、低功耗的 8 位AVR® 微处理器 • 先进的RISC 结构 – 131 条指令 – 大多数指令执行时间为单个时钟周期 – 32个8 位通用工作寄存器 – 全静态工作 – 工作于16 MHz 时性能高达16 MIPS – 只需两个时钟周期的硬件乘法器 • 非易失性程序和数据存储器 – 16K 字节的系统内可编程Flash 擦写寿命: 10,000 次 – 具有独立锁定位的可选Boot 代码区 通过片上Boot 程序实现系统内编程 真正的同时读写操作 – 512 字节的EEPROM 擦写

  3. 所属分类：Flash

    • 发布日期：2009-08-29
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：longyunjiu

  1. JTAG Boundary Scan

  2. JTAG：Joint Test Action Group（联合测试行为组织）的介绍，比较完整，自己整理的： **什么是边界扫描(boundary scan)? **Boundary Scan测试原理及实现 **JTAG标准的IC芯片结构 **IEEE 1149.1 标准背景 **JTAG

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-09-21
    • 文件大小：406528
    • 提供者：voolince

  1. AVR-ATmega16单片机

  2. 产品特性 • 高性能、低功耗的 8 位AVR® 微处理器 • 先进的RISC 结构 – 131 条指令 – 大多数指令执行时间为单个时钟周期 – 32个8 位通用工作寄存器 – 全静态工作 – 工作于16 MHz 时性能高达16 MIPS – 只需两个时钟周期的硬件乘法器 • 非易失性程序和数据存储器 – 16K 字节的系统内可编程Flash 擦写寿命: 10,000 次 – 具有独立锁定位的可选Boot 代码区 通过片上Boot 程序实现系统内编程 真正的同时读写操作 – 512 字节的EE

  3. 所属分类：Flash

    • 发布日期：2009-11-01
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：yu779392

  1. JTAG IEEE 1149.1-2001

  2. 很详细的介绍了JTAG的基础，是关于JTAG的标准协议

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-12-14
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：qingyang158

  1. IEEE 1149.1

  2. IEEE 1149.1-2001 是JTAG的标准

  3. 所属分类：Java

    • 发布日期：2010-04-24
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：asak_1

  1. 边界扫描结构和IEEE1149.1标准

  2. 这的一个关于边界扫描结构的IEEE1149.1标准，做嵌入式测试的朋友有可能会用到这个东西，希望对你能有所帮助！

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-04-28
    • 文件大小：234496
    • 提供者：yj0821421350

  1. IEEE 1149.1标准

  2. IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

  3. 所属分类：Access

    • 发布日期：2010-05-18
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：msj522989094

  1. IEEE Std 1149.1-2001 (JTAG)

  2. JTAG是联合测试工作组（Joint Test Action Group）的简称，是在名为标准测试访问端口和边界扫描结构的IEEE的标准1149.1的常用名称。

  3. 所属分类：C/C++

    • 发布日期：2010-06-22
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：cdg911

  1. IEEE 1149.1 标准

  2. IEEE 1149.1 标准 边界扫描/JTAG，即 IEEE/ANSI 标准1149.1_1190，是一套设计规则，可以在芯片级、板级和系统级简化测试、器件编程和调试。该标准是联合测试行动小组（JTAG）（由北美和欧洲的几家公司组成）开发的。IEEE 1149.1标准最初是做为一种能够延长现有自动测试设备（ATE）寿命的片上测试基础结构而开发的。可以从Texas Instruments 边界扫描页面获得更多信息。利用该标准整合测试设计，允许完全控制和接入器件的边界引脚，而无需不易操作的或其它

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-06-28
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：iceseer

  1. IEEE.1149.1-2001.pdf

  2. IEEE.1149.1-2001 IEEE JTAG 标准文档

  3. 所属分类：Java

    • 发布日期：2010-07-20
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：jingshuiyouhu

  1. IEEE IEEE 1149.1-2001 JTAG协议标准

  2. IEEE IEEE 1149.1-2001 JTAG协议标准

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2012-04-13
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：cen616899547

  1. IEEE1149.1标准

  2. 可测试标准，EEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Testing for Arria GX Devices AGX52013-1.2 Introduction As printed circuit boards (PCBs) become more complex

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2013-01-09
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：sparkyzhaohui

  1. JTAG标准---1149.1

  2. JTAG标准，1149.1规范。支持边界扫描的器件均使用此规范，可以用于单板调试、生产测试等领域。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-03-28
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：u014414427

  1. IEEE 1149.1

  2. JTAG协议，IEEE 1149.1标准，学习设计JTAG必备！

  3. 所属分类：软件测试

    • 发布日期：2015-11-03
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：hzwgy

  1. 外文并口标准.rar ieee 1149.1

  2. 外文并口标准.rar ieee 1149.1 外文并口标准.rar ieee 1149.1 外文并口标准.rar ieee 1149.1 外文并口标准.rar ieee 1149.1

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2008-11-21
    • 文件大小：7340032
    • 提供者：bigroot

  1. ieee1149.1

  2. jtag测试国际标准文件，了解边界扫描测试的基本原理及bsdl 文件理解。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-02-16
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：xupan_jsj

  1. IEEE Std 1149.1-2013 .pdf

  2. IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 2013版 边界扫描1149.1标准2013版本，主要是DC部分，包括cell设计、测试指令介绍等

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-04-21
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：regedit3211

  1. 嵌入式系统/ARM技术中的TI专注于推动IEEE 1149.7 新标准的开发与认证

  2. 随着芯片功能的不断增加，系统设计从简单的电路板向复杂的多芯片上系统 （SoC） 架构发展，手持终端和消费类电子产品开发人员正面临着日益严格的引脚及封装要求。 　　作为 IEEE 工作组的重要成员，德州仪器宣布将致力于推动 IEEE 1149.7 标准获得批准。IEEE 1149.7 是一种全新的双引脚测试与调试接口标准，可以将 IEEE 1149.1 技术的引脚数量减半，使设计人员能够轻松测试并调试具有复杂数字电路、多个 CPU 以及应用软件的产品。除了领衔推进最新 IEEE 1149.7 标准

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：83968
    • 提供者：weixin_38581455
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