您好,欢迎光临本网站![请登录][注册会员]  

搜索资源列表

  1. 基于过采样技术提高ADC分辨率的研究与实现.pdf

  2. 基于过采样技术提高ADC分辨率的研究与实现
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2009-05-09
    • 文件大小:1048576
    • 提供者:yucliang
  1. 基于过采样技术提高ADC分辨率的研究与实现

  2. 基于过采样技术提高ADC分辨率的研究与实现
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2009-10-10
    • 文件大小:1048576
    • 提供者:agrimony_liu
  1. 利用过采样技术提高ADC测量微弱信号时的分辨率

  2. 利用过采样技术提高ADC测量微弱信号时的分辨率
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2010-02-27
    • 文件大小:154624
    • 提供者:QIN123456789
  1. 软件仪器与过采样技术

  2. 软件仪器与过采样技术,只要ADC的精度足够高,可以测量任何信号!
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2010-02-27
    • 文件大小:410624
    • 提供者:QIN123456789
  1. 用过采样和求均值提高ADC分辨率

  2. AD芯片的分辨率不能满足设计所需的要求是我们通常会选择更换芯片,这通常会带来技术和成本上的麻烦,通过这篇文章介绍的过采样技术,即可在采样频率要求不过的情况下通过软件处理的方法提高分辨率。
  3. 所属分类:嵌入式

  1. 基于DSP的过采样技术

  2.  模数(AD)转换通常是数字信号处理应用中的第一步,依据应用的不同,对模数转换器(ADC)也有不同的要求,衡量模数转换器的最重要的标准是它的转换速率、分辨率和精度。应用过采样技术,再加上适当的数字滤波和抽取,就可以得到比原有的ADC更高的分辨率。
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2010-09-30
    • 文件大小:26624
    • 提供者:xspider99
  1. 使用ADC增加过采样精度

  2. 很好的AD过采样技术文档,很值得一看。很好的AD过采样技术文档,很值得一看。
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2011-03-11
    • 文件大小:266240
    • 提供者:lingxiaoqiu
  1. 基于过采样技术提高数据采集精度的新方法

  2. 基于过采样技术提高数据采集精度的新方法基于过采样技术提高数据采集精度的新方法
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2011-05-17
    • 文件大小:323584
    • 提供者:lone1027
  1. 过采样技术,10位ADC变16位的方法

  2. 想要将10位ADC变为16位吗,就用过采样吧。压缩包里有实现的方法和数学解释。我已实用过,可行!
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2011-07-21
    • 文件大小:464896
    • 提供者:leecny
  1. ADC过采样技术实现与原理

  2. AD 转换的过采样技术一般分三步: 1 高速 (相对于输入信号频谱) 采样模拟信号 2 数字低通滤波 3 抽取数字序列。采用这项技术,既保 留了输入信号的较完整信息,降低了对输入信号频谱的要求,又可以 提高采样子系统的精度。
  3. 所属分类:C

    • 发布日期:2011-08-22
    • 文件大小:98304
    • 提供者:llzkb
  1. ADC过采样技术

  2. TI经典的ADC过采样技术介绍,用于STELLARIS 系列的微控制器
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2012-02-23
    • 文件大小:181248
    • 提供者:zishan_21
  1. 过采样提高ADC精度

  2. 以前不知道什么是过采样技术,找了好久,希望对大家有所帮助
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2012-03-02
    • 文件大小:2097152
    • 提供者:fanjianjun
  1. 过采样技术提高ADC分辨率

  2. 采用过采样技术提高ADC分辨率,原理值得参考 。
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2013-10-18
    • 文件大小:101376
    • 提供者:longin_embed
  1. 使用过采样技术提升 STM32 的 ADC 采样精度

  2. 使用过采样技术提升 STM32 的 ADC 采样精度
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2009-04-18
    • 文件大小:199680
    • 提供者:http5604
  1. 基于FPGA过采样技术及实现

  2. 过采样技术是数字信号处理者用来提高模数转换器(ADC)性能经常使用的方法之一,它通过减小量化噪声,提高ADC的信噪比,从而提高ADC的有效分辨率。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-23
    • 文件大小:373760
    • 提供者:weixin_38504417
  1. 嵌入式系统/ARM技术中的基于ARM的过采样技术

  2. 随着科学技术的发展,人们对宏观和微观世界逐步了解,越来越多领域(物理学、化学、天文学、军事雷达、地震学、生物医学等)的微弱信号需要被检测,例如:弱磁、弱光、微震动、小位移、心电、脑电等[1~3].测控技术发展到现在,微弱信号检测技术已经相对成熟,基本上采用以下两种方法来实现:一种是先将信号放大滤波,再用低或中分辨率的ADC进行采样,转化为数字信号后,再做信号处理,另一种是使用高分辨率ADC,对微弱信号直接采样,再进行数字信号处理。两种方法各有千秋,也都有自己的缺点。前一种方法,ADC要求不高,特
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-23
    • 文件大小:220160
    • 提供者:weixin_38608875
  1. 基于DSP的过采样技术的应用

  2. 1引言模数(AD)转换通常是数字信号处理应用中的第一步,依据应用的不同,对模数转换器(ADC)也有不同的要求,衡量模数转换器的最重要的标准是它的转换速率、分辨率和精度。因此,使用过采样技术,再加上适当的数字滤波和抽取,就可以得到比原有的ADC更高的分辨率。在数字信号处理器(DSP)中应用过采样技术需要快速ADC以非常快的速度来采样模拟信号,并且需要快速DSP来执行数字低通滤波和抽取。TI公司出品的DSP芯片TMS320LF2407采用3.3V供电,30MIPS的执行速度使得指令周期缩短至33ns
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-22
    • 文件大小:220160
    • 提供者:weixin_38684976
  1. 基于ARM Cortex-M3的过采样技术

  2. 基于ARMCortex-M3的过采样技术,介绍一种基于ARMCortex-M3内核实现的过采样技术。实验结果表明,利用过采样技术可在不需片外ADC器件的情况下,达到同样的采样效果。将Cortex-M3内核与过采样技术相结合,不仅能够降低成本,而且提升了系统的运行速率、可靠性与稳定性。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-23
    • 文件大小:197632
    • 提供者:weixin_38686860
  1. 过采样技术提高ADXL345输出分辨率

  2. 简介   ADI公司的ADXL345三轴加速度计包括一个数字接口和内置模数转换器(ADC)。ADXL345在所有g范围内(±2g、±4g、±8g和±16g)具有3.9 mg/LSB的高分辨率,适合大多数应用。   在需要更高分辨率的应用中,可使用过采样技术来提高ADXL345的分辨率。此应用笔记说明如何利用先进先出(FIFO)缓冲器提高ADXL345的分辨率。   过采样原理   对来自加速度计的加速度信号进行数字信号处理的第一步是模数转换。对于具有模拟输出的加速度计,加速度计的信号通过
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-04
    • 文件大小:230400
    • 提供者:weixin_38631197
  1. 单片机与DSP中的基于DSP的过采样技术的应用

  2. 1 引言   模数(AD)转换通常是数字信号处理应用中的第一步,依据应用的不同,对模数转换器(ADC)也有不同的要求,衡量模数转换器的最重要的标准是它的转换速率、分辨率和精度。因此,使用过采样技术,再加上适当的数字滤波和抽取,就可以得到比原有的ADC更高的分辨率。   在数字信号处理器(DSP)中应用过采样技术需要快速ADC以非常快的速度来采样模拟信号,并且需要快速DSP来执行数字低通滤波和抽取。TI公司出品的DSP芯片TMS320LF2407采用3.3V供电,30MIPS的执行速度使得指令
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-02
    • 文件大小:180224
    • 提供者:weixin_38679233
« 12 3 »