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BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、 LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点。
所属分类:
其它
发布日期:2020-07-23
文件大小:92160
提供者:
weixin_38565628
BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用,介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后,讨论了MereBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点。
所属分类:
其它
发布日期:2020-10-20
文件大小:276480
提供者:
weixin_38744694
嵌入式系统/ARM技术中的BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用
引 言 随着科技的不断发展,集成电路的制造工艺和设计水平得到了飞速提高,设计者能够将非常复杂的功能集成到硅片上。将PCB板上多块芯片的系统集成到一块芯片内部,这个芯片就是系统级芯片,即SoC(System on Chip)。SoC芯片的特点主要有两方面:第一是其高度的复杂性,第二是大量运用可重用的IP(Intellectual Property)模块。以往的芯片设计往往只专注于某个特定功能的模块设计,例如压缩/解压、无线模块、网络模块等。而一块SoC芯片的功能可能是多个独立模块的总和。另外
所属分类:
其它
发布日期:2020-11-10
文件大小:142336
提供者:
weixin_38602563