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  1. CCD探测型共聚焦显微成像横向分辨率优化

  2. 电荷耦合器件(CCD)探测型共聚焦显微成像是近年来共聚焦成像的新方法,其成像横向分辨率除受物镜数值孔径影响外,还与成像探测方点扩展函数分布区域中实际采用的CCD像元密切相关。用CCD取代传统共聚焦成像中的针孔和点探测器,选取点扩展函数分布区域中一定组合的CCD像元合成等效针孔,在合成针孔为不同尺寸时分别比较系统的横向分辨率,得到优化的合成针孔,通过对不同合成针孔获得的图像加权相减,实现消减成像,进一步提高横向分辨率。实验得出:当合成针孔尺寸为艾里斑直径0.8倍时(8 pixel×8 pixel)
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-07
    • 文件大小:9437184
    • 提供者:weixin_38737565