摘要：文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响，应用集成电路成品率预计模型，分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响，据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略，建立了相应的可靠性分析模型，给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则。       关键词：集成电路；可靠性；冗余技术；小型卫星         引    言       微小卫星促进了专用集成电路(ASIC—Application Spceific Integrated Cir