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搜索资源 - EDA/PLD中的FPGA器件的竞争与冒险现象及消除方法
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EDA/PLD中的FPGA器件的竞争与冒险现象及消除方法
摘 要:现场可编程门阵列(FPGA)由于其内部构成,容易引起竞争冒险现象,从而使电路工作的稳定性大受影响,电路也容易产生误动作,以致产生意想不到的后果。本文详细介绍了冒险现象的产生,并结合实例介绍了消除竞争冒险现象的各种方法。这些方法主要通过改变设计,破坏毛刺产生的条件来减少毛刺的发生。他能够使FPGA设计中毛刺的出现几率减到最小,大大减少了逻辑错误,加强了电路工作的稳定性,有效地抑制了干扰,使设计也更加优化、合理。 关键词:FPGA;竞争冒险;毛刺;逻辑错误 在数字电路设计中,经常需要
所属分类:
其它
发布日期:2020-12-07
文件大小:70656
提供者:
weixin_38689041