注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. ESD保护二极管比较

  2. 手机、数码相机、MP3播放器和PDA等手持设备的设计工程师，正不断地面临着在降低整个系统成本的同时、又要以更小的体积提供更多功能的挑 战。集成电路设计工程师通过在减少硅片空间大小的同时提高设备的速度和性能，以此来推动这一趋势。为了使功能和芯片体积得到优化，IC设计 工程师要不断地在他们的设计中使功能尺寸最小化。然而，要付出什么代价呢？IC功能尺寸的减少使得器件更易受到ESD电压的损害。这种趋势对 终端产品的可靠性会产生不利的影响，并且会增加故障的可能性。因此，手持设备的设计工程师就要面对找到一

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2009-08-09
    • 文件大小：293888
    • 提供者：rikky5210

  1. PCB的设计方法和抗ESD设计规则.pdf

  2. 在电子产品设计中必须遵循抗静电释放的设计规则，本文介绍静电释放(ESD)产生的原理， 以及机箱、屏蔽层、接地、布线设计等诸多设计规则，它们有助于预防并解决静电释放产生 的危害，值得中国电子设备设计工程师认真研究和学习。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-05-21
    • 文件大小：214016
    • 提供者：xayaya

  1. php、.net、sql、Java、c#、ESD、C#代码判断 题库！！！

  2. 汇集了php考题、.net考题、sql考题、Java考题、c#考题、ESD考题、C#代码判断考题等。

  3. 所属分类：C#

    • 发布日期：2010-08-30
    • 文件大小：96256
    • 提供者：Lader_boy

  1. TI的ESD EMI解决方案

  2. TI介绍ESD、EMI解决方案的PPT，详细介绍了各种接口（如USB、HDMI、ESATA等）适用的ESD防护器件和EMI滤波器件，2010年最新版

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-11-05
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：eande76

  1. ESD-5设计箱模拟信号输入电路

  2. 电路板上的主要的芯片有： 一，可在系统编程的89S52单片机系统 通过在系统编程(isp)插座对CPU进行编程，无需仿真器和编程器,即可进行程序开发. 与89S52管脚对应的40芯插座，以便于扩展外围电路。 二，10K10可编程逻辑器件模块 与单片机，键盘，RAM, ispPAC20 相联结。 可以利用89S52的ALE作为CLK，亦可通过板右方的CLK插座，选择外接CLK。 三，RAM6264 6264为8KByte静态RAM，13根地址线，8根双向数据线，有3根控制信号线连至10K10，分

  3. 所属分类：项目管理

    • 发布日期：2011-04-16
    • 文件大小：128000
    • 提供者：xuhailong217

  1. ESD防护电路（周立功）

  2. 周立功 PCB高级EMC设计，讲述了常用接口的ESD防护电路，包括USD、CAN、SD、MMC等接口的ESD防护，还介绍了芯片的选型知识。

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2011-08-16
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：zhangmingfu

  1. 国内外ESD标准

  2. 最新国内外ESD的执行标准，清楚阐述了ESD的产生，消除，预防措施和ESD防护标准等

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-07-12
    • 文件大小：798720
    • 提供者：drckye

  1. 电子设备中的抗ESD设计规则

  2. 电子设备中的抗ESD设计规则 在电子产品设计中必须遵循抗静电释放的设计规则，本文介绍静电释放(ESD)产生的原理，以及机箱、屏蔽层、接地、布线设计等诸多设计规则，它们有助于预防并解决静电释放产生的危害，值得中国电子设备设计工程师认真研究和学习。

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2012-09-15
    • 文件大小：49152
    • 提供者：favinfeng

  1. ESD防雷击设计规范

  2. 比较详细的介绍不同产品 ESD防护及防雷击等原理及预防措施

  3. 所属分类：3G/移动开发

    • 发布日期：2012-10-28
    • 文件大小：479232
    • 提供者：maclk

  1. A83T整机ESD整改参考

  2. 全志公司的应用文档，用于A83T的参考资料，当出现莫名的死机或者重启等问题，或者手摸一下出现花屏重启等问题，可以参考下资料里面提到的ESD整改方案！

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2017-09-05
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：dadage

  1. ESD&EOS;解决方案

  2. 此文档是上海移远的ESD&EOS;解决方案，详细介绍了选型，推荐电路，参数等

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2017-11-12
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：u013135625

  1. 手机防ESD设计实例

  2. 内容包括"LCD外加一个金属支架"\"采用堵的方式2"\侧键静电保护等总计35类实例

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-03-16
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：qynsm

  1. 电路的ESD保护.pdf

  2. 电路的ESD保护pdf,静电放电（ESD）是从事硬件设计和生产的工程师都必须掌握的知识。很多开发人员往往会遇到这样的情形：实验室中开发的产品，测试完全通过，但客户使用一段时间后，即会出现异常现象，故障率也不是很高。一般情况下，这些问题大多由于浪涌冲击、ESD冲击等原因造成。在电子产品的装配和制造过程中，超过25%的半导体芯片的损坏归咎于ESD。随着微电子技术的广泛应用及电磁环境越来越复杂，人们对静电放电的电磁场效应如电磁干扰（EMI）及电磁兼容性（EMC）问题越来越重视。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-14
    • 文件大小：109568
    • 提供者：weixin_38744207

  1. 产品机构设计资料( 含塑料, 五金材料特性, 设计注意, EMI, ESD等

  2. 产品机构设计资料( 含塑料, 五金材料特性, 设计注意, EMI, ESD等

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2015-06-26
    • 文件大小：116736
    • 提供者：zoushiyin

  1. 静电释放ESD

  2. 静电释放讲义，静电产生原理，怎么预防等。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-07-03
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：shaokang1229163

  1. 多电源域高速IO的片上模块化ESD防护器件

  2. 提出一种新颖的片上静电泄放(ESD)防护器件,该器件由N阱/P阱二极管、基于high-K金属栅CMOS工艺形成的二极管、寄生的晶闸管(SCR)和内嵌的电源钳位电路等几部分构成,具有多条ESD通路,能实现对单个IO管脚的PS-Mode、NS-Mode、PD-Mode、ND-Mode及DSMode共5种ESD应力模式的保护。本文分析了high-K工艺下各种SCR模块的结构和工作机制,通过合理配置这些SCR,该器件的一些关键ESD参数如触发电压、保持电压等能根据具体需要而调整,以满足片上系统(SoC)

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-06-11
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38569219

  1. 电路保护器件保护移动设备避免ESD影响

  2. 更高的电流密度和更小的晶体管尺寸，以及用于芯片保护的有限空间，均趋向于增加电子元器件对静电放电(ESD)等瞬态电气过应力事件的敏感性。减少此类瞬态事件的影响，不单有助于防止设备相互“交谈”时导致数据损坏，还可提升总体可靠性。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-02
    • 文件大小：91136
    • 提供者：weixin_38513669

  1. USB3.0端口的ESD防护设计

  2. 为实现十倍于USB2.0的传输速度，USB 3.0控制芯片必须使用更先进的制程来设计与制造，但这也造成USB 3.0的控制芯片对ESD的耐受能力快速下降。除此之外，USB 3.0会被大量用来传输影音数据，对数据传输容错率会有越严格的要求，使得使用额外的保护组件来防止ESD事件对数据传输的干扰变得很必要。除了传输速度的要求之外，另一个用户最普遍的USB应用就是即插即用、随拔即关。然而这个热插入动作却也经常是造成电子系统工作异常、甚至造成USB端口组件毁坏的元凶，因为如静电放电(ESD)等瞬时噪声就

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：199680
    • 提供者：weixin_38681082

  1. 模拟技术中的电路保护器件保护移动设备避免ESD影响

  2. 前言　　移动设备用户之需求日益复杂，使得便携式产品的设计集成了更多的输入/输出(I/O)互连。更高的电流密度和更小的晶体管尺寸，以及用于芯片保护的有限空间，均趋向于增加电子元器件对静电放电(ESD)等瞬态电气过应力事件的敏感性。减少此类瞬态事件的影响，不单有助于防止设备相互“交谈”时导致数据损坏，还可提升总体可靠性。　　ESD 基础　　ESD事件是两个具有不同静电电位的物体经由接触或者电离空气放电或火花放电而进行能量转移而引起。材料类型、接触面积、分离速度、相对湿度和其它因素均影响了摩擦充电生成

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：81920
    • 提供者：weixin_38502239

  1. 电路保护器件保护移动设备避免ESD影响

  2. 前言　　移动设备用户之需求日益复杂，使得便携式产品的设计集成了更多的输入/输出(I/O)互连。更高的电流密度和更小的晶体管尺寸，以及用于芯片保护的有限空间，均趋向于增加电子元器件对静电放电(ESD)等瞬态电气过应力事件的敏感性。减少此类瞬态事件的影响，不单有助于防止设备相互“交谈”时导致数据损坏，还可提升总体可靠性。　　ESD 基础　　ESD事件是两个具有不同静电电位的物体经由接触或者电离空气放电或火花放电而进行能量转移而引起。材料类型、接触面积、分离速度、相对湿度和其它因素均影响了摩擦充电生成

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：116736
    • 提供者：weixin_38674115
« 12 3 4 5 6 7 8 9 10 ... 21 »