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  1. 单片机应用技术选编（7）

  2. 内容简介 　　 《单片机应用技术选编》(7) 选编了1998年国内50种科技期刊中有关单片机开发应用的文 章共510篇，其中全文编入的有113篇，摘要编入的397篇。全书共分八章，即单片机综合 应用技术；智能仪表与测试技术；网络、通信与数据传输；可靠性与抗干扰技术；控制系统 与功率接口技术；电源技术；实用设计；文章摘要。 　　 本书具有重要实用价值，书中介绍的新技术、新器件以及单片机应用系统的软、硬件资 料有助于减少产品研制过程中的重复性劳动，提高单片机应用技术水平，是从事单片机应用 开发技

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-05-19
    • 文件大小：13631488
    • 提供者：zgraeae

  1. 电子测量中的大容量存储器集成电路测试

  2. 大容量存储器集成电路的测试系统是科技型中小企业技术创新基金项目,是根据大容量存储器集成电路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的发展趋势而研究开发的测试系统。方案的主要内容为测试方法和测试程序研究开发,其次是测试板、适配器及生产性测试设备的研制和设备结构制作和调试等。特点是基于大容量存储器集成电路的结构,采用全新的测试技术理论和较通用的测试设备,实现实验室精确测试和生产中大批量芯片中测及成品测试。目前对高兆位存储器电路能大批量测试的设备非常昂贵,低价的专用存储器电路测试仪又不能满

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：94208
    • 提供者：weixin_38602563

  1. 电子测量中的在通用自动测试仪上实现SPI 存储器测试的方法研究

  2. 摘要：近年SPI 存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中，但SPI 属于串行接口，难以使用算法图形产生器自动产生地址，因此难以在通用自动测试仪上进行测试。 　　本文分析了SPI 存储器的结构特点和测试难点，提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI 存储器算法图形自动产生的方法，并以SPI EEPROM 芯片AT25HP512 为例，实现了测试程序开发。实验证实，该方法可以克服SPI 存储器地址算法自动产生的困难，对该类芯片测试具有通用性。 　　0 引言 　　串行存储器大多采用I2C 或S

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：225280
    • 提供者：weixin_38619967

  1. FLASH存储器的测试方法研究

  2. 本文是在传统存储器测试理论基础上对FLASH测试的尝试，该方法保留了传统方法的优点，较好地解决了FLASH存储器测试的困难。该方法方便快捷，流程简单，所有测试图形都可以事先生成，这样就可以直接加载到测试仪中，有利于直接应用于测试仪进行生产测试。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-18
    • 文件大小：135168
    • 提供者：weixin_38630697

  1. FLASH存储器的测试方法研究

  2. 1．引言 　　随着当前移动存储技术的快速发展和移动存储市场的高速扩大，FLASH型存储器的用量迅速增长。FLASH芯片由于其便携、可靠、成本低等优点，在移动产品中非常适用。市场的需求催生了一大批FLASH芯片研发、生产、应用企业。为保证芯片长期可靠的工作，这些企业需要在产品出厂前对FLASH存储器进行高速和细致地测试，因此，高效FLASH存储器测试算法的研究就显得十分必要。 　　不论哪种类型存储器的测试，都不是一个十分简单的问题，不能只将存储器内部每个存储单元依次测试一遍就得出结论，这是因为

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-11
    • 文件大小：156672
    • 提供者：weixin_38556416

  1. EDA/PLD中的FPGA的多路可控脉冲延迟系统

  2. 摘要 采用数字方法和模拟方法设计了一种最大分辨率为0.15 ns级的多路脉冲延迟系统，可以实现对连续脉冲信号的高分辨率可控延迟；采用Flash FPGA克服了现有SRAM FPGA系统掉电后程序丢失的缺点，提高了系统反应速度。本系统适用于需要将输入脉冲信号进行精确延迟来产生测试或控制用的连续脉冲信号场合，具有很强的适用性。 　　在科学研究、通信和一些自动控制中，经常需要精确定时的连续脉冲信号，用于产生测试信号或控制用的时序。脉冲延迟的基本方法可分为数字方法和模拟方法。数字方法采用计数器或存储器

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-07
    • 文件大小：148480
    • 提供者：weixin_38708945

  1. 基于NAND Flash控制结构复用的嵌入式存储系统研究

  2. 引言 　　ＮＡＮＤＦｌａｓｈ具有快速访问、低功耗、抗震性、尺寸小、重量轻等特性，并且稳定性良好，即使在系统电源关闭的情况下仍可保存数据。随着技术的发展，其价格降低且容量增大，这些使得ＮＡＮＤＦｌａｓｈ逐渐成为嵌入式系统的一个独立部件，系统存储的工业标准。 　　对Ｆｌａｓｈ存储器的测试与编写，目前流行的工业方法是采用遵守ＩＥＥＥ－１１４９．１标准，又称ＪＴＡＧ（ｊｏｉｎｔ　ｔｅｓｔ　ａｃｔｉｏｎ　ｇｒｏｕｐ）规范的边界扫描技术，运用专门的商业测试板和配套软件来完成。不论是板级还是生产线级，都有

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-18
    • 文件大小：309248
    • 提供者：weixin_38626179

  1. PCB技术中的在电路测试阶段使用无铅PCB表面处理工艺的研究和建议

  2. 引言：无铅PCB的出现对在电路测试(ICT)提出了新的问题，本文描述了现有的PCB表面处理工艺，并分析了这些工艺对ICT的影响，指出影响ICT的关键是探针与测试点间的接触可靠性，并介绍了为满足ICT的要求在PCB构建过程中需要做出的特定改变。 图1：用户采用了一套推荐的OSP规则集，但是依然发现对一次通过的良率有12%的影响。一直以来，测试工程师主要关注的是确保他有一个有效的测试程序，该程序能在生产中很好地执行。“在电路测试(ICT)”依然是一种检测制造缺陷的非常有效的方法。更先进的IC

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：142336
    • 提供者：weixin_38655780

  1. 在通用自动测试仪上实现SPI 存储器测试的方法研究

  2. 摘要：近年SPI 存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中，但SPI 属于串行接口，难以使用算法图形产生器自动产生地址，因此难以在通用自动测试仪上进行测试。 　　本文分析了SPI 存储器的结构特点和测试难点，提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI 存储器算法图形自动产生的方法，并以SPI EEPROM 芯片AT25HP512 为例，实现了测试程序开发。实验证实，该方法可以克服SPI 存储器地址算法自动产生的困难，对该类芯片测试具有通用性。 　　0 引言 　　串行存储器大多采用I2C 或S

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：218112
    • 提供者：weixin_38548434

  1. 大容量存储器集成电路测试

  2. 大容量存储器集成电路的测试系统是科技型中小企业技术创新基金项目,是根据大容量存储器集成电路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的发展趋势而研究开发的测试系统。方案的主要内容为测试方法和测试程序研究开发,其次是测试板、适配器及生产性测试设备的研制和设备结构制作和调试等。特点是基于大容量存储器集成电路的结构,采用全新的测试技术理论和较通用的测试设备,实现实验室测试和生产中大批量芯片中测及成品测试。目前对高兆位存储器电路能大批量测试的设备非常昂贵,低价的专用存储器电路测试仪又不能满足测

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：91136
    • 提供者：weixin_38516190

  1. FLASH存储器测试程序原理和几种通用的测试方法

  2. 1．引言　　随着当前移动存储技术的快速发展和移动存储市场的高速扩大，FLASH型存储器的用量迅速增长。FLASH芯片由于其便携、可靠、成本低等优点，在移动产品中非常适用。市场的需求催生了一大批FLASH芯片研发、生产、应用企业。为保证芯片长期可靠的工作，这些企业需要在产品出厂前对FLASH存储器进行高速和细致地测试，因此，高效FLASH存储器测试算法的研究就显得十分必要。　　不论哪种类型存储器的测试，都不是一个十分简单的问题，不能只将存储器内部每个存储单元依次测试一遍就得出结论，这是因为每一个存

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：161792
    • 提供者：weixin_38625098

  1. FPGA的多路可控脉冲延迟系统

  2. 摘要 采用数字方法和模拟方法设计了一种分辨率为0.15 ns级的多路脉冲延迟系统，可以实现对连续脉冲信号的高分辨率可控延迟；采用Flash FPGA克服了现有SRAM FPGA系统掉电后程序丢失的缺点，提高了系统反应速度。本系统适用于需要将输入脉冲信号进行延迟来产生测试或控制用的连续脉冲信号场合，具有很强的适用性。 　　在科学研究、通信和一些自动控制中，经常需要定时的连续脉冲信号，用于产生测试信号或控制用的时序。脉冲延迟的基本方法可分为数字方法和模拟方法。数字方法采用计数器或存储器实现延迟控制

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：183296
    • 提供者：weixin_38727453