IC测试原理解析(第二部分) http:www.guangdongdz.com  2006-06-23   芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片的基本测试原理，描述了影响芯片测试方案选择的基本因素，定义了芯片测试过程中的常用术语。本文将讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上。接下来的第三章将介绍混合信号芯片的测试，第四章会介绍射频/无线芯片的测试。存储器和逻辑芯片的测试存储器芯片测试介绍存