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搜索资源列表

  1. IC测试原理与应用讲义

  2. 集成电路测试技术。电压源，电流源设计与应用，测试设备设计

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-09-29
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：zhangdl826

  1. IC测试原理——必备好资料

  2. IC测试原理--新手入门必备好资料！ word格式的。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-01-05
    • 文件大小：103424
    • 提供者：cyp1234

  1. 很全面的sdram测试资料

  2. sdramtest.c：一个很全面的测试源代码，包括读写测试，数据线测试，地址线测试等 sdram数据线和地址线短路测试原理 内存及闪存IC测试原理

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2010-04-26
    • 文件大小：7168
    • 提供者：jzqhuhui123

  1. IC测试原理_芯片测试原理

  2. IC测试原理_芯片测试原理,pdf格式的

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-06-09
    • 文件大小：254976
    • 提供者：xinxippt2010

  1. 电子 IC测试原理解析

  2. IC测试原理解析 本系列一共四章，第一章节主要讨论芯片开发和生产过程中的IC 测试基本原理，内容 覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC 测试中的常用术语；第二章节将 讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；接下来的第三章将介绍混合信号芯 片的测试，第四章会介绍射频/无线芯片的测试。

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2010-08-15
    • 文件大小：488448
    • 提供者：LAI254265302

  1. IC测试原理解析, 详细的解释

  2. 分为4章,逻辑器件,模拟器件,部分流程,测试项目的介绍

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-10-26
    • 文件大小：512000
    • 提供者：xunpingzhao

  1. 基于ATE的IC测试原理方法及分析

  2. 介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括电气特性测试原理和功能测试原理，详细地介绍了通 用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常 见的故障分析

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-04-11
    • 文件大小：401408
    • 提供者：chuan1030

  1. ic测试原理

  2. ic 测试原理 ，测试基本原理

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2012-11-02
    • 文件大小：488448
    • 提供者：caoguangdian

  1. IC测试原理解析

  2. 全面介绍了IC测试方法和分类

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2008-08-03
    • 文件大小：488448
    • 提供者：liu8033

  1. IC测试原理解析

  2. IC测试原理解析

  3. 所属分类：管理软件

    • 发布日期：2015-08-24
    • 文件大小：488448
    • 提供者：jsqfzhl

  1. 电子元器件基础知识大全:IC测试原理解析

  2. 电子元器件基础知识大全:IC测试原理解析 数字通信系统发射器由以下几个部分构成：*CODEC(编码/解码器) *符号编码 *基带滤波器(FIR) *IQ调制 *上变频器（Upconverter） *功率放大器 CODEC使用数字信号处理方法(DSP)来编码声音信号，以进行数据压缩。它还完成其它一些功能，包括卷积编码和交织编码。卷积编码复制每个输入位，用这些冗余位来进行错误校验并增加了编码增益。交织编码能让码位错误分布比较均匀，从而使得错误校验的效率更高。 符号编码把数据和信息转化为

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-11
    • 文件大小：106496
    • 提供者：weixin_38665093

  1. 集成电路测试原理解析

  2. IC测试基本理论；分四块 数字集成电路测试基本原理 存储器和逻辑芯片测试原理 混合信号芯片测试原理 射频/无线芯片测试原理

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2011-03-07
    • 文件大小：452608
    • 提供者：x_w_d007

  1. 芯片开发和生产中的IC测试基本原理

  2. 　本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-27
    • 文件大小：101376
    • 提供者：weixin_38610012

  1. IC测试基本原理与ATE测试向量生成

  2. 随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-29
    • 文件大小：217088
    • 提供者：weixin_38566180

  1. IC测试基本原理与ATE测试向量生成

  2. 集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究和发展IC测试，有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分，研究其生成方法也日渐重要。 　　1 IC 测试 　　1.1 IC测试原理 　　IC 测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT提供测试激励（X），通过测量DUT输出响应（Y）与期望输出做比较，从而判断D

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：238592
    • 提供者：weixin_38629042

  1. 芯片开发和生产中的IC测试原理

  2. 本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-25
    • 文件大小：96256
    • 提供者：weixin_38729685

  1. 元器件应用中的芯片开发和生产中的IC测试基本原理

  2. 1 引言 　　本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 　　2 数字集成电路测试的基本原理 　　器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的，因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识，测试工程师必须清晰了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-05
    • 文件大小：98304
    • 提供者：weixin_38731145

  1. 电源技术中的电子元器件基础知识大全：IC测试原理解析

  2. *功率放大器 　　CODEC使用数字信号处理方法(DSP)来编码声音信号，以进行数据压缩。它还完成其它一些功能，包括卷积编码和交织编码。卷积编码复制每个输入位，用这些冗余位来进行错误校验并增加了编码增益。交织编码能让码位错误分布比较均匀，从而使得错误校验的效率更高。 　　符号编码把数据和信息转化为I/Q信号，并把符号定义成某个特定的调制格式。基带滤波和调制整形滤波器通过修整I/Q调制信号的陡峭边沿来提高带宽的使用效率。 　　IQ调制器使得I/Q信号相互正交(积分意义上)，因此它们之间

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-26
    • 文件大小：165888
    • 提供者：weixin_38665162

  1. IC测试原理解析(第一部分)

  2. 本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集成电路测试的基本原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。 因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：93184
    • 提供者：weixin_38667849

  1. IC测试原理解析(第二部分)

  2. IC测试原理解析(第二部分) http:www.guangdongdz.com  2006-06-23   芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片的基本测试原理，描述了影响芯片测试方案选择的基本因素，定义了芯片测试过程中的常用术语。本文将讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上。接下来的第三章将介绍混合信号芯片的测试，第四章会介绍射频/无线芯片的测试。存储器和逻辑芯片的测试存储器芯片测试介绍存

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：89088
    • 提供者：weixin_38543293
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