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  1. IC芯片的晶圆级射频（RF）测试

  2. 本文介绍的新的参数测试系统能够快速、准确、可重复地提取RF参数，几乎和DC测试一样容易。最重要的是，通过自动校准、去除处理(de- embedding)以及根据待测器件(DUT)特性进行参数提取，探针接触特性的自动调整，已经能够实现RF的完整测试。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-05
    • 文件大小：91136
    • 提供者：weixin_38656337

  1. IC芯片的晶圆级射频(RF)测试

  2. 对于超薄介质，由于存在大的漏电和非线性，通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容(Cox)。然而，使用高频电路模型则能够精确提取 这些参数。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-26
    • 文件大小：105472
    • 提供者：weixin_38627213

  1. RFID技术中的IC芯片的晶圆级射频（RF）测试

  2. 对于超薄介质，由于存在大的漏电和非线性，通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容（Cox）。然而，使用高频电路模型则能够精确提取这些参数。随着业界迈向65nm及以下的节点，对于高性能/低成本数字电路，RF电路，以及模拟/数模混合电路中的器件，这方面的挑战也在增加。 　　减少使用RF技术的建议是在以下特定的假设下提出来： 假设RF技术不能有效地应用，尤其是在生产的环境下，这在过去的确一直是这种情况。 　　但是，现在新的参数测试系统能够快速、准确、可重复地提取RF参数，几乎和DC测试一样

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：106496
    • 提供者：weixin_38690017

  1. RFID技术中的不可或缺的射频测试

  2. 最近主要的半导体制造商承认：研发和生产先进的IC芯片非常需要晶圆级的射频(RF)测试。在一定程度上，这公然与2003年ITRS技术工作组对于建模与仿真的建议不符，该建议表明:“对于RF精简模型的参数提取，更应该尽力压缩RF测试。 如果需要，应该通过支持仿真的标准I-V和C-V测试来提取这些参数。”  问题之一是对于超薄介质，由于存在大的漏电和非线性，通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容(Cox)。然而，使用高频电路模型则能够精确提取这些参数。随着业界迈向65nm及以下的节点，

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：108544
    • 提供者：weixin_38557530

  1. RFID技术中的射频(RF)测试的重要地位

  2. 最近主要的半导体制造商承认：研发和生产先进的IC芯片非常需要晶圆级的射频(RF)测试。在一定程度上，这公然与2003年ITRS技术工作组对于建模与仿真的建议不符，该建议表明:"对于RF精简模型的参数提取，更应该尽力压缩RF测试。 如果需要，应该通过支持仿真的标准I-V和C-V测试来提取这些参数。"问题之一是对于超薄介质，由于存在大的漏电和非线性，通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容(Cox)。然而，使用高频电路模型则能够精确提取这些参数。随着业界迈向65nm及以下的节点，对于高性能/

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：50176
    • 提供者：weixin_38700409

  1. 射频(RF)测试的重要地位

  2. 近主要的半导体制造商承认：研发和生产先进的IC芯片非常需要晶圆级的射频(RF)测试。在一定程度上，这公然与2003年ITRS技术工作组对于建模与仿真的建议不符，该建议表明:"对于RF精简模型的参数提取，更应该尽力压缩RF测试。 如果需要，应该通过支持仿真的标准I-V和C-V测试来提取这些参数。"问题之一是对于超薄介质，由于存在大的漏电和非线性，通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容(Cox)。然而，使用高频电路模型则能够提取这些参数。随着业界迈向65nm及以下的节点，对于高性能/低成本

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：49152
    • 提供者：weixin_38713039

  1. IC芯片的晶圆级射频（RF）测试

  2. 对于超薄介质，由于存在大的漏电和非线性，通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容（Cox）。然而，使用高频电路模型则能够提取这些参数。随着业界迈向65nm及以下的节点，对于高性能/低成本数字电路，RF电路，以及模拟/数模混合电路中的器件，这方面的挑战也在增加。 　　减少使用RF技术的建议是在以下特定的假设下提出来： 假设RF技术不能有效地应用，尤其是在生产的环境下，这在过去的确一直是这种情况。 　　但是，现在新的参数测试系统能够快速、准确、可重复地提取RF参数，几乎和DC测试一样容易

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：105472
    • 提供者：weixin_38688403