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  1. ISE-TCAD 中文培训资料.pdf 很好的资料

  2. ISE-TCAD 中文培训资料.pdf 很好的资料 请识货者收藏和下载,很好资料哦
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2010-05-28
    • 文件大小:523264
    • 提供者:hsgyunzhongyue
  1. Tcad training

  2. 很好 很详细的一个ISE-TCAD教程 还有截图
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2010-09-26
    • 文件大小:4194304
    • 提供者:qcf0704kb
  1. ISE simulation 教程

  2. ISE TCAD SIMULATION 教程
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2011-09-16
    • 文件大小:11534336
    • 提供者:dadiwuya
  1. ISD TCAD模拟工具初级使用手册

  2. ISE TCAD软件的初级使用手册,半导体器件物理
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2012-04-30
    • 文件大小:566272
    • 提供者:liuzhan__
  1. ISE-TCAD半导体器件模拟DESSIS

  2. 半导体器件模拟isetcad中的 DESSIS使用部分,内部培训教程
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2013-05-31
    • 文件大小:462848
    • 提供者:u010909397
  1. ISE TCAD核心部分dessis

  2. ISE TCAD核心部分dessis英文讲解
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2013-09-18
    • 文件大小:8388608
    • 提供者:u012166445
  1. ISE-TCAD模拟工具使用初级手册

  2. ISE- TCAD 的介绍使用,希望对你们有用哦~
  3. 所属分类:教育

    • 发布日期:2014-01-19
    • 文件大小:517120
    • 提供者:u012724500
  1. ISE-TCAD模拟工具使用初级手册

  2. 不错的模拟软件说明,简单易懂的介绍ISE-TCAD模拟工具
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2014-02-20
    • 文件大小:523264
    • 提供者:u013721092
  1. 半导体仿真工具Silvaco TCAD学习资料教程.pdf

  2. 半导体仿真工具Silvaco TCAD学习资料教程pdf,接触Silvaco TCAD仿真软件已经有很长时间了,这期间还熟悉了一下ISE TCAD。学习的过程中,老师、师兄姐和同学给了我极大的帮助。这本书的主旨就是希望提供-些对于Silvaco仿真的可资借鉴的经验。学习和使用Silvaco的时候各人的视角会不一样,虽然这本书只是介绍一些常用的仿真,例句也有限,但因为流程控制和语法都有相通的地方,完全可以参照本书和手册的说明灵活地建立仿真以及仿真--些本书未提及的特性。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2019-09-14
    • 文件大小:3145728
    • 提供者:weixin_38743968
  1. ISE Integrated Systems Engineering Release 9.0 Examples Library

  2. ISE TCAD 仿真示例,包含以下:NMOS、DMOS、SOI、EEPROM、FeRAM、ESD、POWER等。
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2020-11-23
    • 文件大小:3145728
    • 提供者:goohoos
  1. 完全耗尽的栅叠层双栅极应变Si MOSFET中渐变沟道设计对改善短沟道抗扰度和热载流子可靠性的影响

  2. 本文提出了一种新的纳米级梯度沟道栅堆叠,双栅应变硅MOSFET结构及其二维解析模型。假定界面,并考虑了掺杂的影响以及高,低掺杂区的长度。该模型用于获得两个区域中表面势和电场的表达式。 扩展分析以获得阈值电压(Vth),亚阈值电流和亚阈值摆幅的表达式。 结果表明,沟道中的渐变掺杂分布可抑制短沟道效应(SCE),例如Vth滚降,漏极诱导的势垒降低(DIBL)和热载流子效应。 已将如此获得的结果与使用设备模拟器ISE-TCAD获得的模拟结果进行了比较,发现该一致性良好。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-14
    • 文件大小:524288
    • 提供者:weixin_38554193
  1. 纳米FinFET器件的单粒子效应研究(英文)

  2. Fin FET器件比主流CMOS技术表现出更多优势,如快速、高集成度、低功耗、多功能性和强扩展性,基于ISE TCAD,考虑迁移率、量子效应、载流子重组、辐射效应等的影响,建立了一种纳米Fin FET器件SEE的3D仿真模型。分析了工艺掺杂浓度、栅压、粒子能量、寄生电容及技术节点等对单粒子瞬态电流的影响,并探讨了其影响机制。基于此分析,找到了一些潜在的工艺加固技术,如降低源极掺杂浓度、增加漏极和衬底的掺杂浓度、减少粒子能量、降低栅压、优化寄生电容等。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-09
    • 文件大小:401408
    • 提供者:weixin_38609453